HAST老化試驗(yàn)箱廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、

光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)。HAST老化試驗(yàn)箱的目的是提高環(huán)境應(yīng)力

(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命

試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用

壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

HAST老化試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)及安全裝置：

1、HAST老化試驗(yàn)箱圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品，可預(yù)防試驗(yàn)中有滴

      水結(jié)露現(xiàn)象，可避免蒸汽過(guò)熱直接沖擊操作人員。

2、安全程序自動(dòng)停機(jī)，自動(dòng)泄壓，自動(dòng)破真空，自動(dòng)給水，每次加水可持續(xù)運(yùn)行400小時(shí)。

3、采用溫度與壓力安全檢知及門(mén)禁自動(dòng)鎖定控制系統(tǒng)，圓型測(cè)試槽與安全門(mén)環(huán)扣結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，

      當(dāng)內(nèi)箱壓力越大時(shí)，反壓會(huì)迫使安全門(mén)與箱體更加緊密之結(jié)合，故內(nèi)箱壓力必須小于正

      常壓力時(shí)，測(cè)試門(mén)才能被打開(kāi)，因此而保證了操作人員的安全。

4、具備異常故障訊號(hào)警示功能

HAST老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品應(yīng)用范圍：

　　用于調(diào)查分析電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布

函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。如：國(guó)防、航天、汽車(chē)部

件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照

明制品等產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)測(cè)試其密封性能。