當(dāng)前位置:東莞市正臺測試儀器有限公司>>冷熱沖擊試驗箱>>液槽冷熱沖擊試驗箱>> ZT-CTH-56C液體高低溫沖擊試驗箱
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 額定電壓 | 380V |
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加工定制 | 是 | 適用領(lǐng)域 | 大專院校 |
外形尺寸 | 1300×1450×2050mm | 溫度范圍 | -65~+150℃ |
溫度均勻度 | ±0.5% | 重量 | 580kg |
液體高低溫沖擊試驗箱用途:
適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(沖擊),適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.
液體高低溫沖擊試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
GJB150.5-86溫度沖擊試驗
GJB360.7-87溫度沖擊試驗
GJB150.4-86 低溫試驗箱試驗方法
GJB150.3-86 高溫試驗箱試驗方法
IEC68-2-14 試驗N:溫度變化
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
GB 2423-22環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化
MIL-STD-202F美軍標(biāo)準(zhǔn),電子及電氣試驗方法
MIL-STD-883E美軍標(biāo)準(zhǔn),集成電路失效分析方法
型號 | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C |
模式 | 浸漬在液體介質(zhì)浴中,通過樣品籃的移動到達低溫或高溫槽內(nèi) | |
試驗樣品尺寸(mm) | 130×160×130 【W(wǎng)*H*D】 | 160×160×220 【W(wǎng)*H*D】 |
預(yù)冷溫度范圍 | -70℃~0℃ | |
預(yù)熱溫度范圍 | +60℃~+200℃ | |
溫度沖擊范圍 | -40℃~+150℃/-65℃~+150℃ |
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