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首頁>>上海正衡電子科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>集成電路電磁兼容測試

  • 電磁干擾發(fā)射探頭 參考價:面議

    電磁干擾發(fā)射探頭P600 / P750 set 的測量結(jié)果保證了測量結(jié)果的高重復(fù)性和可比性??梢允褂肅hipScan-ESA軟件進(jìn)行測量。所有被測引腳的測量結(jié)果...
    型號: P600 / P7... 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:上海市 對比
    集成電路電磁干擾集成電路EMC測試干擾發(fā)射測試
    2025/3/10 12:06:452845
  • 電磁干擾發(fā)射探頭 參考價:面議

    電磁干擾發(fā)射探頭S603 / S750 set 的測量結(jié)果保證了測量結(jié)果的高重復(fù)性和可比性。可以使用ChipScan-ESA軟件進(jìn)行測量。所有被測引腳的測量結(jié)果...
    型號: S603 / S7... 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:上海市 對比
    集成電路電磁干擾集成電路EMC測試干擾發(fā)射測試
    2025/3/10 12:04:572822
  • 電磁干擾發(fā)射探頭組 參考價:面議

    電磁干擾發(fā)射探頭組P603 / P750 set ,該探頭組能夠接觸到測試IC的每個引腳。 該探頭套組能夠確保較高的測量重復(fù)精度和測量的可比較性。
    型號: P603 / P7... 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:上海市 對比
    集成電路電磁兼容電磁干擾發(fā)射EMC測試IC電磁兼容測試
    2025/3/10 12:02:402412
  • 電磁干擾發(fā)射探頭組 參考價:面議

    電磁干擾發(fā)射探頭組P603-1 / P750 set,基于IEC61967-4標(biāo)準(zhǔn)的傳導(dǎo)發(fā)射測量,該探頭套組用于測量IC引腳的傳導(dǎo)發(fā)射(采用1歐姆/150歐姆直...
    型號: P603-1 / ... 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:上海市 對比
    IEC61967-4集成電路電磁兼容IC電磁兼容測試EMCEMI
    2025/3/10 12:00:192853
  • LANGER EMV-Technik SX近場探頭組 信號分析儀 參考價:面議

    LANGER EMV-Technik SX近場探頭組專門為近場測試設(shè)計的探頭,電磁兼容工程師*的基本工具,用于在產(chǎn)品開發(fā)期間探測PCB的電磁場情況
    型號: 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商所在地:上海市 對比
    近場探頭LANGER EMV-TechnikEMC測試SX近場探頭
    2025/3/10 9:45:384487

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