砂塵試驗(yàn)箱電子元器件沙塵侵蝕測(cè)試

電子元器件

如芯片、電路板等小型電子元器件。在一些工業(yè)控制設(shè)備、汽車(chē)電子系統(tǒng)等應(yīng)用場(chǎng)景中，這些元器件可能會(huì)暴露在沙塵環(huán)境中。砂塵試驗(yàn)箱可以測(cè)試它們?cè)谏硥m環(huán)境下的性能穩(wěn)定性。例如，沙塵中的微小顆粒可能會(huì)造成電路板短路，通過(guò)試驗(yàn)可以確定元器件是否有足夠的防護(hù)措施來(lái)避免這種情況

尺寸規(guī)格

工作室尺寸：常見(jiàn)的有 800mm×800mm×800mm、1000mm×1000mm×1000mm、1000mm×1500mm×1000mm 等，也可根據(jù)用戶需求定制。

外形尺寸：通常比工作室尺寸大，具體數(shù)值因不同型號(hào)和生產(chǎn)廠家而異，如 1230mm×1120mm×1860mm、1550mm×1800mm×1400mm 等。

砂塵試驗(yàn)箱電子元器件沙塵侵蝕測(cè)試

環(huán)境條件模擬參數(shù)

溫度范圍：一般在 RT+5℃～60℃、Rt+10℃～70℃、室溫＋10℃～80℃等范圍之間調(diào)節(jié)，部分特殊要求的試驗(yàn)箱溫度范圍可能更寬，如 - 20℃-60℃。

濕度范圍：部分試驗(yàn)箱可監(jiān)控實(shí)時(shí)濕度，但不可調(diào)，通常要求試驗(yàn)環(huán)境相對(duì)干燥，濕度范圍一般在 20% RH-90% RH 左右。

風(fēng)速：通常在 0.5m/s-10m/s 或更高的范圍可調(diào)節(jié)，如 0.5~8.9m/s、1.5~8.9m/s、18.0~29.0m/s 等。

粉塵濃度：滑-石粉用量一般為 2kg~4kg/m3，空氣 / 灰塵 - 混合物的密度為 5kg/m3±2kg/m3，吹塵濃度可根據(jù)試驗(yàn)需求在一定范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。

試驗(yàn)時(shí)間與周期參數(shù)

試驗(yàn)時(shí)間：吹塵時(shí)間、振擊時(shí)間、負(fù)載時(shí)間、工作時(shí)間等通常在 0~99h59min 或 1s~9999min 范圍內(nèi)可調(diào)，可自動(dòng)交替進(jìn)行。

吹塵周期：間歇、連續(xù)控制可調(diào)，可根據(jù)具體試驗(yàn)要求設(shè)置不同的吹塵和間歇時(shí)間。

材料與結(jié)構(gòu)參數(shù)

內(nèi)箱材質(zhì)：多為 304/316 不銹鋼，具有耐腐蝕、易清潔等特點(diǎn)。

外箱材質(zhì)：常見(jiàn)為 304 不銹鋼或優(yōu)質(zhì)冷軋板靜電噴塑。

其他參數(shù)

金屬網(wǎng)絲直徑：通常為 50μm。

線間標(biāo)稱間距：一般為 75μm。

功率：如 2.5KW、5KW 等，不同型號(hào)和功能的試驗(yàn)箱功率有所不同。

使用電源：一般為交流 220V 或 380V±10%，50Hz，根據(jù)設(shè)備功率不同而有所差異。