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摘要本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)太赫茲具有一定透射性的材料的自身缺陷、粘接缺陷等的檢測(cè)、定性判斷及定量分析。

  【儀表網(wǎng) 儀表標(biāo)準(zhǔn)】由中國(guó)材料與試驗(yàn)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)及設(shè)備領(lǐng)域委員會(huì)(CSTM/FC94)歸口承擔(dān)的《無(wú)損檢測(cè)太赫茲時(shí)域光譜檢測(cè)和評(píng)價(jià)方法》團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)已完成征求意見稿,按照《中關(guān)村材料試驗(yàn)技術(shù)聯(lián)盟團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)管理辦法》的有關(guān)規(guī)定,現(xiàn)公開廣泛征求意見。
 
  太赫茲時(shí)域光譜無(wú)損檢測(cè)技術(shù)在航空航天領(lǐng)域應(yīng)用前景廣泛。不僅應(yīng)用于航天飛機(jī)機(jī)體上的疲勞檢查、隱患排查,還可以應(yīng)用于復(fù)合材料、陶瓷材料、塑料材料等非金屬材料的檢測(cè)工作。此外,在建筑物內(nèi)的墻和地板的檢測(cè),瓷磚和紙張等產(chǎn)品的生產(chǎn)檢測(cè)以及印刷電路板的脫層、密封性檢測(cè)等領(lǐng)域,太赫茲時(shí)域光譜無(wú)損檢測(cè)技術(shù)同樣有著廣泛的應(yīng)用前景。
 
  在復(fù)合材料的太赫茲無(wú)損檢測(cè)方面,國(guó)外較國(guó)內(nèi)發(fā)展較快,國(guó)外在多種復(fù)合材料方面對(duì)太赫茲技術(shù)均有嘗試,相關(guān)研究單位聯(lián)合建立了THz光譜數(shù)據(jù)庫(kù),擁有上萬(wàn)種材料的THz譜。而國(guó)內(nèi)太赫茲發(fā)展起步較晚,在復(fù)合材料太赫茲無(wú)損檢測(cè)方面大多處在實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證或工程測(cè)試階段,核心設(shè)備均依賴國(guó)外進(jìn)口。而且國(guó)內(nèi)目前對(duì)太赫茲無(wú)損檢測(cè)的研究主要靠檢測(cè)樣品進(jìn)行的,缺乏有理論模型的研究工作。
 
  太赫茲(THz)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)作為一種新興的無(wú)損檢測(cè)技術(shù),較超聲檢測(cè)而言,無(wú)需使用耦合劑,為各種新型復(fù)合材料的無(wú)損檢測(cè)提供了解決方案;較射線檢測(cè)而言,THz波的能量?jī)H有毫電子伏特量級(jí),對(duì)人體沒(méi)有傷害,符合無(wú)損檢測(cè)綠色化的發(fā)展趨勢(shì);較激光錯(cuò)位散斑、紅外無(wú)損檢測(cè)而言,受檢測(cè)環(huán)境影響較小,適用于各種惡劣的檢測(cè)環(huán)境;較渦流等電磁檢測(cè)而言,THz波可穿透非極性材料,為非極性材料無(wú)損檢測(cè)提供了新思路。
 
  本標(biāo)準(zhǔn)參照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院,長(zhǎng)春理工大學(xué),碩德(北京)科技有限公司,成都神龍爵光電科技有限公司。
 
  本標(biāo)準(zhǔn)主要包括:規(guī)定了使用太赫茲時(shí)域光譜對(duì)非金屬材料進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)的術(shù)語(yǔ)、原理、檢測(cè)要求、檢測(cè)系統(tǒng)、檢測(cè)工藝、數(shù)據(jù)處理、檢測(cè)記錄和試驗(yàn)報(bào)告等。
 
  基本原理:
 
  太赫茲波在某些物質(zhì)中會(huì)被色散和吸收效應(yīng)調(diào)制,當(dāng)被檢測(cè)對(duì)象存在缺陷時(shí),太赫茲波透過(guò)檢測(cè)對(duì)象時(shí)其幅值和相位會(huì)發(fā)生異常變化;因此通過(guò)檢測(cè)太赫茲波的幅值和相位可反應(yīng)被檢對(duì)象的缺陷。
 
  太赫茲時(shí)域光譜技術(shù)是利用飛秒激光脈沖入射到光導(dǎo)天線上激發(fā)出載流子,載流子在外加電場(chǎng)的作用下發(fā)生定向運(yùn)動(dòng)并輻射出包含多個(gè)太赫茲頻域信號(hào)的脈沖式電磁波;通過(guò)測(cè)量太赫茲電場(chǎng)強(qiáng)度隨時(shí)間的變化曲線,并對(duì)時(shí)域曲線進(jìn)行傅里葉變換,可計(jì)算出太赫茲頻域強(qiáng)度及相位信息。當(dāng)被測(cè)材料中出現(xiàn)孔洞、脫粘、夾雜等缺陷,接收太赫茲光譜中會(huì)出現(xiàn)相位和時(shí)間信息的不同,通過(guò)對(duì)接收的信號(hào)進(jìn)行成像、特征識(shí)別等分析方法,鑒別材料的質(zhì)量問(wèn)題,并定性、定量分析缺陷。
 
  通用檢測(cè)工藝規(guī)程:
 
  開展太赫茲時(shí)域光譜檢測(cè)的單位應(yīng)制定通用檢測(cè)工藝規(guī)程,其內(nèi)容至少應(yīng)包括如下要素:a) 實(shí)用范圍;b) 引用的標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī);c) 檢驗(yàn)人員資格要求;d)檢測(cè)設(shè)備;e) 試塊要求;f) 參數(shù)設(shè)置;g) 檢測(cè)對(duì)象;h) 檢測(cè)方法和步驟;i) 數(shù)據(jù)處理方法;j) 檢測(cè)結(jié)果的評(píng)價(jià);k) 檢測(cè)人員、日期;l) 其他注意事項(xiàng);m) 檢測(cè)記錄、報(bào)告和資料存檔;n) 編制、審核和批準(zhǔn)人員;o) 編制日期。
 
  檢測(cè)方法:
 
  1.檢測(cè)準(zhǔn)備
 
  選擇檢測(cè)鏡頭。應(yīng)根據(jù)被檢對(duì)象厚度選擇合適焦距的檢測(cè)鏡頭。例:1英寸鏡頭適用于厚度小于10mm受檢件;3英寸鏡頭適用于厚度d∈(10,50)mm受檢件;6英寸鏡頭適用于厚度d∈(50,110)mm受檢件。
 
  選擇掃描裝置。應(yīng)根據(jù)被檢對(duì)象結(jié)構(gòu)選擇掃描裝置,分別為二維掃描裝置和智能機(jī)器人化掃描裝置。a) 當(dāng)樣件表面為平面或滿足曲率小于2°時(shí),選擇二維移動(dòng)導(dǎo)軌帶動(dòng)太赫茲鏡頭對(duì)樣件進(jìn)行掃描成像;b) 當(dāng)樣件結(jié)構(gòu)曲率大于2°時(shí),為了滿足測(cè)量精度,選擇機(jī)械臂配合太赫茲鏡頭對(duì)樣件進(jìn)行三維化測(cè)量。其中,移動(dòng)式升降臺(tái)主要用于太赫茲時(shí)域光譜機(jī)器人化無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)的搭載。微調(diào)裝置用于調(diào)節(jié)鏡頭與樣件間的位移,保證樣件處于鏡頭的焦距處。
 
  系統(tǒng)校驗(yàn)。登記必要的信息,例如,被檢測(cè)物體的名稱、編號(hào)、材料、結(jié)構(gòu)等,必要時(shí),應(yīng)留存照片。
 
  2.檢測(cè)實(shí)施
 
  對(duì)焦。利用微調(diào)裝置調(diào)節(jié)鏡頭與被檢測(cè)物體之間位置,保證被檢測(cè)物體處于鏡頭焦距范圍內(nèi),使得太赫茲時(shí)域信號(hào)峰峰值最大,頻域信號(hào)能量值最大。當(dāng)需要改變工作距離或是更換鏡頭時(shí),應(yīng)重新進(jìn)行對(duì)焦。
 
  設(shè)置檢測(cè)時(shí)窗。使用反射式檢測(cè)試件時(shí),保證試件上、下表面時(shí)域信息完全包含在檢測(cè)時(shí)窗中,若試件較厚,檢測(cè)時(shí)窗不能包含全部信息,可分兩次檢測(cè)試件或者調(diào)整檢測(cè)時(shí)窗范圍。
 
  設(shè)置系統(tǒng)參數(shù)。太赫茲時(shí)域光譜技術(shù)檢測(cè)的參數(shù)設(shè)置應(yīng)考慮被檢物大小、檢測(cè)效率以及缺陷的幾何特性。受檢件若為粘接結(jié)構(gòu)復(fù)合材料或者其他復(fù)雜情況下,應(yīng)使用參考試件來(lái)建立合適的檢測(cè)參數(shù)。
 
  (1)被檢物尺寸較大、允許缺陷尺寸指標(biāo)較低時(shí),建議采用較大步距先對(duì)材料進(jìn)行粗檢,發(fā)現(xiàn)異常區(qū)域后,對(duì)局部區(qū)域進(jìn)行較小步距精檢。
 
  (2)太赫茲時(shí)域光譜技術(shù)檢測(cè)效率受設(shè)置的檢測(cè)步距影響,設(shè)置較大步距,檢測(cè)效率高,但同時(shí)降低了檢測(cè)精度,對(duì)缺陷識(shí)別尺寸精度較低;反之,設(shè)置檢測(cè)較小步距,檢測(cè)精度提高,檢測(cè)效率降低。
 
  (3)對(duì)于尺寸小、較難識(shí)別的缺陷,建議設(shè)置較小步距對(duì)樣件進(jìn)行檢測(cè)。
 
  本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)太赫茲具有一定透射性的材料的自身缺陷、粘接缺陷等的檢測(cè)、定性判斷及定量分析。檢測(cè)對(duì)象一般為非極性材料,如:陶瓷材料、塑料材料、層壓結(jié)構(gòu)復(fù)合材料、蜂窩結(jié)構(gòu)復(fù)合材料等。

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