【儀表網(wǎng) 行業(yè)標準】由中國材料與試驗標準化委員會科學試驗標準化領域委員會科學試驗評價標準化技術委員會(CSTM/FC98/TCO4)歸口承擔的《航天器用 CMOS圖像傳感器質量保證評價方法》團體標準(立項號:CSTM LX 9804 01303—2023)已完成征求意見稿，按照《中關村材料試驗技術聯(lián)盟團體標準管理辦法》的有關規(guī)定，現(xiàn)公開廣泛征求意見。
CMOS 圖像傳感器具有動態(tài)范圍大、集成度高、功耗低、體積小易集成等優(yōu)點，廣泛應用于手機、汽車、自動化等領域，特別是在航空航天領域也有廣泛應用。比如星船監(jiān)視、星敏感器、天基監(jiān)視、深空探測、空間輻射探測等都會用到 CMOS 圖像傳感器。目前國內尚無針對 CMOS 圖像傳感器航天應用質量保證的相關標準，因此有必要針對航天型號對 CMOS 圖像傳感器的性能及可靠性需求，制定航天器用 CMOS 圖像傳感器質量保證通評價方法的標準，用于指導承制方或使用方對 CMOS 圖像傳感器進行質量保證工作。
目前國內相關標準還很不完善只有長光所申請的《CMOS圖像傳感器測試方法》標準等待發(fā)布中，其他標準暫無。
本文件規(guī)定了航天器用 CMOS 圖像傳感器質量保證工作項目、方法及相關要求，包括篩選、鑒定、破壞性物理分析、結構分析、測試要求和試驗方法。本文件適用于針對航天器用帶封裝結構(密封和非密封)的 CMOS 圖像傳感器組件或模塊。
環(huán)境要求：
除非另有規(guī)定，應在以下條件下進行試驗和測試：
a) 氣壓：86kPa～106kPa；
b) 環(huán)境溫度：20℃～25℃(光電測試)，(25±10)℃(其他試驗)；
c) 相對濕度：30%～70%；
d) 潔凈度：按照產(chǎn)品詳細規(guī)范規(guī)定；
e) 無光噪聲和明顯氣流；
f) 屏蔽電磁輻射(適用時)；
g) 防止機械振動；
h) 防靜電。
測試儀器及計量要求：
除非另有規(guī)定，測試儀器應滿足以下：
a) 測試儀器量程應滿足被測圖像傳感器參數(shù)范圍；
b) 精度范圍至少優(yōu)于被測指標誤差4倍以上，一般情況下數(shù)字儀表示值至少3位有效數(shù)字；
c) 符合計量檢定要求，且在計量有效期內。
被測產(chǎn)品正常工作要求：
除非另有規(guī)定，被測產(chǎn)品應滿足以下工作要求：
a) 被測圖像傳感器應在產(chǎn)品詳細規(guī)范規(guī)定的工作條件下穩(wěn)定工作后，進行相關參數(shù)測試；
b) 測試時應按照產(chǎn)品詳細規(guī)范要求采取必要的防護措施。
元件評價簡述：
元件評價用于驗證圖像傳感器使用的外購材料和元器件是否符合規(guī)定的性能要求，以及能否完成在使用條件下的預定功能。應明確為確保電路性能和組裝工藝能力所要求的元件性能。圖像傳感器根據(jù)功能和工藝結構的不同可能會使用的元件包括(不限于)：
a) 裸芯片(die)；
b) 藍寶石玻璃/D263 玻璃；
c) 管殼；
d) 金屬鍵合絲；
e) 粘接材料；
f) PIN 管腳;
評價要求：
對所有材料的評價應在其用于圖像傳感器組裝生產(chǎn)之前完成。可根據(jù)外購元件質量和可靠性歷史、供方的生產(chǎn)過程控制情況、組裝之后元件失效可能造成的影響等方面對評價方案進行調整。針對不同元件的評價要求如下：
a) 對于半導體芯片、無源元件、基片、外殼、粘接材料的評價可參照 GJB 2438 附錄 C.2 的要求執(zhí)行；
b) 對于光學窗口應對用于封裝的光學窗口的相關參數(shù)做出規(guī)定，如：透過率不低于 97%，不滿足透過率時需要增加增透膜；
c) 所 PIN 管腳的鍍涂可以是鍍金、熱浸錫、鍍錫或按規(guī)定。
報告及數(shù)據(jù)：
對于每個批次的篩選和認定檢驗，在全部檢驗完成后，應整理成報告數(shù)據(jù)包，數(shù)據(jù)包應包含以下內容：
a) 試驗樣品信息，包含生產(chǎn)廠家、質量等級、批次號(或序列號)、樣品數(shù)量等；
b) 試驗設備清單，含設備名稱、型號及計量有效期；
c) 元件評價報告及記錄；
d) 過程檢驗報告及記錄；
e) 結構分析報告及記錄；
f) 篩選報告及記錄；
g) 認定檢驗報告及記錄；
h) DPA 報告及記錄；
i) 失效分析報告(若有時)。
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