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X射線探傷機(jī)

X射線探傷機(jī)

X射線損探傷機(jī)原理利用X射線穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無損探傷方法。X射線可以檢查金屬與非金屬材料及其制品的內(nèi)部缺陷。例如焊縫中的氣孔、夾渣。未焊透等體積性缺陷。工業(yè)X射線探傷機(jī),包括X射線管頭組裝體、控制箱及連接電纜在內(nèi)的對物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行X射線攝影或斷層檢查的設(shè)備總稱。X射線探傷裝置按照X射線發(fā)射的方向和窗口范圍可分為定向式和周向式;按安裝形式可分為固定式和移動(dòng)式[1]。中文名X射線探傷機(jī)外文名X-rayFlawDetector原理X射線無損探傷原理分類攜帶式和移動(dòng)式使用范圍檢查金屬與非金屬材料的內(nèi)部缺陷使用案例焊縫中的氣孔、夾渣1攜帶式設(shè)備攜帶式X射線探傷機(jī)造船、詳情>>

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