日本分光電離能量測量系統(tǒng)（超紫/真空紫外線型）
概述：
電離能對于測試電離能量和有機半導(dǎo)體重要材料是非常重要和關(guān)鍵的，如有機電子發(fā)光和有機薄膜太陽能電池。一般來說，例如UPS和XPS，只有在高真空條件下對樣品的光電子能譜測量的同時，進行電離能量/工作函數(shù)測量。然而，有機器件受大氣影響導(dǎo)致在各種在大氣氣體下的測量有一定的要求。采用光電子能譜，我們的Model BIP-KV201電離能量的測量系統(tǒng)能夠在氮保護氣體，真空氣體和大氣下檢測一些樣品。使用氮清除類型manochromator和光學(xué)系統(tǒng)，Model BIP-KV201直射到樣品上的真空紫外線能夠達到9.54伏。
優(yōu)勢特點：
●測量電離能量（工作函數(shù)）從 9.54 ~ 4.0伏
●樣品在氮氣、真空和大氣下進行測量
●評估有機發(fā)光電子和有機薄膜太陽能電池的理想設(shè)備
●運用Pico-Ammeter使得系統(tǒng)達到較高的靈敏度
規(guī)格參數(shù)：
型號名稱： BIP-KV201電離能量測量系統(tǒng)（超紫/真空紫外線型）
光源： 氘燈30W
測量波長范圍： 在大氣下 : 6.53 ~ 4.0eV ( 190 ~ 310nm) 在真空條件下 : 9.54 ~ 4.0eV ( 130 ~ 310nm)
測量區(qū)間： zui小步距 0.01eV
照射面積： 2 x 2mm (通過狹縫和垂直孔徑)
測量方法： 產(chǎn)量光電子能譜分析(PYS)
樣品室： 大氣、氮、真空
軟件： 光譜輻射測量控制，光電子，電離能的測定（功函數(shù)），在二進制和重現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲數(shù)據(jù)，文本文件中的數(shù)據(jù)存儲
●產(chǎn)量光電子能譜分析
單色光照射在樣品上。當(dāng)前大量的光電子從中釋放出來得以檢測，并且在激發(fā)單色光中的大量光量子得以檢測。然后在不斷變化的入口電離能量被檢測到。
●測量項目
①背景測量 利用光電倍增器通過測量光輻照樣品，計算大量的光子
②樣品測量 每個波長的單色光照射到樣品上，然而對樣品施加的電壓很容易獲取釋放出來的電子。并且計算當(dāng)前釋放出來的大量電子。
③電離能量數(shù)據(jù)處理 Y ∝ (hν-I)n Y=釋放大量電子 / 大量光子照射 h 普朗克常數(shù) Ν 頻率 I 入口 N 關(guān)于參數(shù)N取決于在高水平邊緣中的電子密度下樣品的被占領(lǐng)狀態(tài)，可以選擇2或3.標準設(shè)備配備 氘燈和其電力供應(yīng)真空紫外monochoromator輻照光學(xué)系統(tǒng)樣品室樣品架和其他
