日本分光TOF載流子遷移率測(cè)試儀
描述
TOF載流子遷移率測(cè)試儀CMM-250是測(cè)量薄膜電子和空穴的遷移率的有效評(píng)價(jià)系統(tǒng),主要用于EL元件和太陽(yáng)能電池等測(cè)試。
我們有防噪聲系統(tǒng)和*的信號(hào)處理,明顯降低了噪聲,響應(yīng)速度快,如納米二階和高靈敏度已經(jīng)達(dá)到為了測(cè)量電子和空穴的遷移率??筛鼡Q不同的模具(作為一個(gè)選項(xiàng))模具的激光使系統(tǒng)振蕩的波長(zhǎng)范圍從分子與脈沖寬度縮短600P秒熒光.
我們的除了TOF法測(cè)測(cè)量,也可選FET方法測(cè)量。
特點(diǎn)
1、在納米秒的時(shí)間分辨率?以10-7-10-1cm2 / V·秒速度移動(dòng)
(這可能改變?nèi)Q于樣品的厚度)。
2、有簡(jiǎn)單操作和探針樣品室
3、新設(shè)計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理,能夠獲得高信噪比的資料
規(guī)格
光源:氮激發(fā)光模激光器
氮激光脈沖寬度:600psec
氮激光輸出:250KW@10Hz
輸出波長(zhǎng):337.1nm
模具的激光脈沖寬度:400psec(在480nm)
分辨率:測(cè)量時(shí)間小于10納秒
測(cè)量流動(dòng)范圍:10-7 ~ 10-1cm2 / V.秒
(流動(dòng)性不能在這個(gè)范圍內(nèi)測(cè)量)
偏置電壓:0~±500V
負(fù)載電阻:50Ω~100KΩ 5steps
360~720nm(模具可選)
軸的時(shí)間分辨率:8位(平均11位)
同步:光電二極管激勵(lì)光監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
個(gè)人電腦
激光控制:激光開(kāi)/關(guān)
數(shù)據(jù)采集:次把握~ 256槍
數(shù)據(jù)分析:數(shù)據(jù)顯示并保存
Y和X軸對(duì)數(shù)轉(zhuǎn)換
遷移時(shí)間和遷移率的計(jì)算