X射線熒光測(cè)厚儀(膜厚儀)標(biāo)準(zhǔn)片
品牌:美國(guó)calmetrics Ni/Cu型銅上鍍鎳標(biāo)準(zhǔn)片系列
calmetrics是美國(guó)原廠制作標(biāo)準(zhǔn)片的專業(yè)認(rèn)證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測(cè))Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。
應(yīng)用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測(cè))、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測(cè)厚儀(膜厚計(jì))。
特色:X射線熒光測(cè)厚儀(膜厚儀)標(biāo)準(zhǔn)片A2LA校正認(rèn)證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀(膜厚儀)在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
所有X射線熒光測(cè)厚儀(膜厚儀)標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST認(rèn)證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國(guó)工廠定做合格的,并附有厚度值證書.
可制作厚度:0.5-25um
以下為常見性厚度:
CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um)
CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um)
CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um)
CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um)
CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um)
CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um
標(biāo)準(zhǔn)片每片厚度均通過美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)鑒定機(jī)構(gòu)認(rèn)證(有證書),其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。
應(yīng)用 | 底材 | 可制作范圍 |
Ag/Cu | 銅 | 20-2000uin |
Au/KVR | 可伐 | 1-300uin |
Au/Ni | 鎳 | 1-300uin |
Cd/Fe | 鐵 | 20-1200uin |
Cu/Fe | 鐵 | 20-1200uin |
Cr/Fe | 鐵 | 20-800uin |
Ni-P/Al | 鋁 | 20-800uin |
Ni-P/Cu | 銅 | 20-800uin |
Ni-P/Fe | 鐵 | 20-800uin |
Ni-P/KVR | 可伐 | 20-800uin |
Ni/Cu | 銅 | 20-1000uin |
Ni/Fe | 鐵 | 20-1200uin |
Ni/Kvr | 可伐 | 20-1000uin |
Pd/Ni | 鎳 | 5-250uin |
Rh/Ni | 鎳 | 4-200uin |
Sn/Cu | 銅 | 40-2500uin |
Zn/Fe | 鐵 | 20-1300uin |