X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標(biāo)準(zhǔn)片
品牌:美國calmetrics SNIP系列
calmetrics是美國原廠制作標(biāo)準(zhǔn)片的專業(yè)認(rèn)證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。
應(yīng)用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)。
特色:X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標(biāo)準(zhǔn)片A2LA校正認(rèn)證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系,來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
所有標(biāo)X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST認(rèn)證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標(biāo)準(zhǔn)片,并附有X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書.
NiP,8%P | 英制單位 | 公制單位 | |
SNIP100-92 | 100m” | 2.50mm | |
SNIP240-92 | 240m” | 6.00mm | |
SNIP360-92 | 360m” | 9.00mm | |
SNIP720-92 | 720m” | 18.0mm | |
產(chǎn)品規(guī)格: