Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS原素分析儀是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能,其特點(diǎn)為:高分辨率,固態(tài)探測器; 分析有害物質(zhì),元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用; 測量多層鍍層或錫鉛成分分析;電鍍?nèi)芤悍治?;定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規(guī)則形狀;貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);自動(dòng)過濾器,多準(zhǔn)直儀(五個(gè)準(zhǔn)直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動(dòng)XYZ移動(dòng)樣品臺;性價(jià)比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
本公司還供應(yīng)上述產(chǎn)品的同類產(chǎn)品:X射線分析儀器,X熒光測厚儀,X-RAY測厚儀