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迅速測定ppm級的有害金屬!
應(yīng)對WEEE & RoHS、ELV等有害物質(zhì)相關(guān)法規(guī)。
應(yīng)對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規(guī)和指令,保證產(chǎn)品和用料的綠色環(huán)保。
X射線熒光分析裝置是使用X射線照射樣品,對產(chǎn)生的熒光X射線的能量進(jìn)行檢測,測定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置??蔁o損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析,廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域。特別是zui近,以歐盟的報廢電子電氣設(shè)備指令(WEEE)、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令(RoHS)、報廢汽車指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中,要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求,的EDX系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。
測定原理 X射線熒光分析法
測定方法 能量色散型
測定對象 固體、液體、粉狀
測定范圍 13Ai~92U
樣品室尺寸 zui大W370*D320*H155mm
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應(yīng)對WEEE & RoHS、ELV等有害物質(zhì)相關(guān)法規(guī)。
應(yīng)對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規(guī)和指令,保證產(chǎn)品和用料的綠色環(huán)保。
X射線熒光分析裝置是使用X射線照射樣品,對產(chǎn)生的熒光X射線的能量進(jìn)行檢測,測定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置??蔁o損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析,廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域。特別是zui近,以歐盟的報廢電子電氣設(shè)備指令(WEEE)、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令(RoHS)、報廢汽車指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中,要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求,的EDX系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。
>> EDX-720/800HS/900HS配備自動開關(guān)式大型樣品室,可放入zui大300mmφ×150mmH的樣品。 |
>> 標(biāo)準(zhǔn)配備從薄膜分析到有機(jī)分析的定量分析軟件。 |
>> 標(biāo)準(zhǔn)配備無需標(biāo)準(zhǔn)樣品的含量匹配軟件。 |
>> 標(biāo)準(zhǔn)配備實現(xiàn)高靈敏度分析的5種濾光片??商岣呗龋–l)、鎘(Cd)等的檢測靈敏度。 |
>> 結(jié)構(gòu)緊湊的臺式機(jī),主機(jī)尺寸為W580×D650×H420mm。 |
>> 樣品圖像觀察采用CCD裝置,便于觀察樣品位置。特別有助于確認(rèn)微小部分的分析位置。 |
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