推出了：LK300、UTM系列超聲波測厚儀，CDX系列便攜式磁粉探傷儀，X射線探傷機、LK系列超聲波探傷儀、全自動洗片機、LK系列便攜式硬度計、LK系列冷光源觀片燈、LKGP系列光譜儀、JG系列電火花檢測儀、LK系列檢測工具箱、以及觀片燈，各種超聲波探頭等*的無損檢測產(chǎn)品。本公司測厚儀主機壹年保換，終身保修，在質(zhì)量上擁有了可靠的保證，現(xiàn)公司產(chǎn)品已遍及全國各地，深受用戶好評。為答謝用戶的支持，公司還一開展了免費維修各種測厚儀活動，免維修費，免換元器件費，免反還的郵寄費，做到了真正的免費。
性能特點
全中文菜單操作模式，方便快捷超高亮彩色液晶顯示器超聲衍射波探傷，解決傳統(tǒng)探傷單次掃查區(qū)域的局限性和不直觀性缺陷A掃、厚度B掃、B掃、P掃、D掃全屏直觀顯示便攜掃查器代替手工掃查，探傷更快、更精確多通道TOFD探傷，實現(xiàn)焊縫非平行掃查一次性全面覆蓋超大機內(nèi)存儲空間，探傷數(shù)據(jù)回放及離線分析高性能安保鋰電，模塊插接，一機兩電，超長續(xù)航。
| 能特點 全中文菜單操作模式，方便快捷超高亮彩色液晶顯示器超聲衍射波探傷，解決傳統(tǒng)探傷單次掃查區(qū)域的局限性和不直觀性缺陷A掃、厚度B掃、B掃、P掃、D掃全屏直觀顯示便攜掃查器代替手工掃查，探傷更快、更精確多通道TOFD探傷，實現(xiàn)焊縫非平行掃查一次性全面覆蓋超大機內(nèi)存儲空間，探傷數(shù)據(jù)回放及離線分析高性能安保鋰電，模塊插接，一機兩電，超長續(xù)航。
1.高亮度高分辨力彩色液晶顯示屏。 2.內(nèi)置探頭位置編碼器。 3.USB，LAN，VGA輸出接口。 4.大容量數(shù)據(jù)存儲空間。 5.支持縱波、橫波、導波和表面波等模式。 6.具備A掃、腐蝕剖面、B掃、P掃和TOFD成像。 7.單次掃查能記錄長達2米。 8.回放圖像記錄中每點位置的A掃波形。 9.強化的對活動或凍結(jié)的A掃波形信號評估軟件。 10.缺陷尺寸和模式分析。 11.符合國內(nèi)4730標準和國外EN、DNV、API、ASME、RBIM等有關(guān)標準要求。 12.可根據(jù)用戶要求增減TOFD配置，由單個通道配置到7個通道10個探頭同時掃查和記錄200mm厚度工件。 13.配置便于使用的手動掃查器。 14.配置TOFD探頭和PE探頭。 技術(shù)參數(shù) 數(shù)字電路采樣頻率：125M 頻率帶寬：0.5~15MHZ 采樣延時：1200mm 脈沖電壓：-400V 脈沖前沿：15ns 重復頻率：125HZ 匹配阻抗：25Ω、500Ω2 檔可調(diào)檢波方式：數(shù)字檢波方式 增益范圍：0dB~110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步進，全自動調(diào)節(jié)） 閘門數(shù)：每通道2個位 掃描范圍多路TOFD檢測和PE檢測全面覆蓋200mm厚度以內(nèi)焊縫的分區(qū)掃查 探傷功能掃查方式：可對焊縫進行全面的平行和非平行掃查缺陷定位：數(shù)據(jù)分析線能直接讀出缺陷深度以及非點狀缺陷的自身高度焊縫內(nèi)部缺陷顯示：直觀顯示焊縫中缺陷的位置和上下端點位置 A型掃描：射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力 B型掃描：實時顯示缺陷截面形狀 D型掃描：實時顯示缺陷的灰度掃查圖，直觀顯示缺陷并對缺陷模式進行評價 E數(shù)據(jù)存儲與輸出1通道、5通道、7通道三種可選，預先調(diào)校好各類探頭與儀器的組合參數(shù)，方便存儲、離線分析、復驗、打印、通訊傳輸超大內(nèi)存容量，單次掃查即能記錄長達2米被檢工件內(nèi)部缺陷的檢測圖支持USB、LAN、VGA輸出
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