應(yīng)用
CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量 ，從質(zhì)
量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
鍍層測(cè)厚儀行業(yè)
用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，LED支架，五金電鍍，連接器等……多個(gè)行業(yè)表面鍍層厚度的測(cè)量。
鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標(biāo)準(zhǔn)
75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) zui多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055mm（使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器）
在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準(zhǔn)直器）
樣品室
－樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
－zui大樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動(dòng)范圍 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm
還有5種規(guī)格任選
－Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制
－樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。（50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。）
激光自動(dòng)對(duì)焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 IBM計(jì)算機(jī)
惠普或愛普生或佳能彩色噴墨打印機(jī)
分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng)：WindowsXP（OEM）中文平臺(tái)
分析軟件包： SmartLink FP軟件包
－測(cè)厚范圍 可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。
－基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。
樣品種類： 鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）
可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92
可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)
材料和合金元素分析，
材料鑒別和分類檢測(cè)
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較
元素光譜定性分析
－調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移
－測(cè)量自動(dòng)化功能 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“Point and Shoot”
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測(cè)量模式
測(cè)量位置預(yù)覽功能
激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能
－樣品臺(tái)程控功能 設(shè)定測(cè)量點(diǎn)
連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量
測(cè)量位置預(yù)覽
－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、
數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能
任選軟件：統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書
－系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能 Z軸保護(hù)傳感器
樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩(wěn)定性好
●強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能
●測(cè)量范圍寬
●NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片
●服務(wù)及支持
生產(chǎn)廠商:牛津儀器
亦稱表面銅厚探頭、PCB面銅探頭、線路板面銅探頭，CMI760
探頭由連線和SRP-4探針組成，耗損的SRP-4探針可拆卸，可快速更換，節(jié)省費(fèi)用和減少停機(jī)時(shí)間
應(yīng)用*的微電阻測(cè)量技術(shù)測(cè)量線路板的表面銅厚，測(cè)量時(shí)，電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻，通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚，不受絕緣板層厚度和線路板背面銅層影響
銅厚測(cè)量范圍：
化學(xué)銅：0.25μm–12.7μm（10μin–500μin）
電鍍銅：2.5μm–152μm（0.1mil–6mil）
線形銅可測(cè)試線寬范圍：203μm–6350μm（8mil–250mil）
準(zhǔn)確度：±5%參考標(biāo)準(zhǔn)片
精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2%；
電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.3%；
分辨率：0.01mils≥1 mil，0.001mils<1mil，0.1μm≥10μm，0.01μm<10μm，0.001μm<1μm
