X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀
儀器介紹
X-Strata920鍍層測厚儀：又稱X射線熒光鍍層測厚儀，是能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù)的大型臺式測厚儀，是牛津儀器CMI900系列鍍層測厚儀的升級產(chǎn)品，將取代CMI900系列產(chǎn)品。能進行非破壞、非接觸，快速無損測量，在10秒內(nèi)得出測量結(jié)果，可進行多層合金測量，具有高生產(chǎn)力優(yōu)點，是質(zhì)量管理、成本節(jié)約有力的檢測工具。
適用范圍
用于電子元器件、半導(dǎo)體、PCB、FPC、LED支架、連接器、端子、衛(wèi)浴潔具、五金件、汽車零部件、首飾飾品、裝飾件、功能性電鍍……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量；
測量鍍層，金屬涂層，薄膜的厚度或液體（鍍液的成分分析）組成。
主要特點
可測元素范圍：鈦Ti22---鈾U92；
可測定5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線；
進行貴金屬檢測，如Au karat評價；
材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；
測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結(jié)果精確至μin；
強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能，測量結(jié)果輸出多樣化；
擁有NIST認證的標(biāo)準片；
提供服務(wù)及。
測量精度
| 膜厚范圍 | *層（zui上層） | 第二層 | 第三層 |
| 小于0.5 µm （20 µin） | + 1 µin 或更好 | + 2 µin 或更好 | + 3 µin 或更好 |
| 大于0.5 µm | + 5% 或更好 | + 10% 或更好 | + 15% 或更好 |
| 含量 | *層 | 第二層 |
| 1--99 wt % | | + 3 wt % 或更好 |
工作原理
對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
測厚范圍
取決于鍍層的具體應(yīng)用。
技術(shù)參數(shù)
| 項目名稱 | 具體描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| X射線激發(fā)系統(tǒng) | ·垂直下照式X射線光學(xué)系統(tǒng) ·50W（50kV，1.0mA）空冷式微聚焦型鎢W靶X射線管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 準直器系統(tǒng) | ·單準直器組件； ·多準直器自動控制組件：zui多可同時裝配6種規(guī)格的準直器 ·園形、正方形、矩形和多種規(guī)格尺寸準直器任選（紅色為常用的）：
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| 測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣品室 | 開槽式樣品室，測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的線路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣 品 臺 |
固定樣品臺 ·Z軸自動控制，移動行程：43mm （1.7"），XY軸手動控制 ·zui大樣品高度33mm ·儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×305mm（16×30.3×12"） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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加深樣品臺 ·Z軸自動控制，移動行程：43mm （1.7"），XY軸手動控制 ·zui大樣品高度160mm ·樣品倉有4個位置卡槽，相鄰卡槽垂直間距25.4mm，樣品臺支架可放置在不同位置的卡槽上，可測不同高度的樣品 ·樣品倉內(nèi)部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm（11×20×6”） ·儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×400mm（16×30.3×15.7"） ·自定義樣品臺：依據(jù)客戶要求提供更高的樣品臺，滿足高度＞160mm的樣品測量，倉內(nèi)設(shè)置多個位置卡槽，相鄰卡槽垂直間距25.4mm
自動樣品臺 ·Z軸自動控制，移動行程：43mm（1.7"） ·XY軸自動控制，樣品臺移動行程：178×178mm（7x7”） ·zui大樣品高度33mm ·樣品臺尺寸（寬×深）：610×560mm（24×22”） ·儀器外形尺寸（寬×深×高）：610×1037×375mm（24×40.8×14.8"） ·可提供對樣品的自動和編程控制，多點測量 ·鼠標(biāo)控制樣品臺移動，精確地定位樣品測量點 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 鐳射聚焦 |
·單擊鼠標(biāo)，Z軸自動掃描 ·Z軸自動聚焦到焦距12.7mm，同時將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上） ·避免了人為操作誤差 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣品觀察系統(tǒng) | ·高分辨率彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準光學(xué)放大倍數(shù)為30倍 ·可選50倍和100倍觀察系統(tǒng) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 結(jié)果輸出 | ·測量數(shù)據(jù)報告可直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF文件、Excel文件，為質(zhì)量管理保留寶貴的原始資料 ·測量數(shù)據(jù)報告可包含測量數(shù)據(jù)、測量樣品圖像、各種統(tǒng)計分析圖表、自定義的報告模板（系統(tǒng)預(yù)置模板、含用戶信息的自制模板） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 計算機系統(tǒng)配置 | ·IBM計算機 ·佳能彩色噴墨打印機 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 分析應(yīng)用軟件 | ·操作系統(tǒng)：Windows XP中文平臺 ·分析軟件包：SmartLink FP軟件包 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 系統(tǒng)安全性 | ·Z軸保護傳感器 ·安全防射線光閘 ·樣品室門開閉傳感器 ·X射線鎖 ·X射線警示燈 ·緊急停止按鈕 ·前面板安全鈕和后面板安全鎖 ·多用戶密碼保護，只向日常操作員設(shè)定有限的*，操作界面簡單，功能受限 ·主管人員可進行系統(tǒng)維護
·開啟“自動鎖定”功能可以防止未*人員使用；測量結(jié)束后，超過預(yù)設(shè)的時*，軟件鎖定并要求輸入密碼 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 測量自動化功能 | 鼠標(biāo)激活測量模式：“Point and Shoot” | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復(fù)測量模式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 測量位置預(yù)覽功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 激光對焦和自動對焦功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 統(tǒng)計計算功能 | 平均值、標(biāo)準偏差、相對標(biāo)準偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 任選軟件：統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 數(shù)據(jù)庫存儲功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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