zui大測(cè)試管腳數(shù):256
AT256全品種集成電路測(cè)試儀測(cè)試適用范圍：
元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試
電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)（附加測(cè)試電纜線和各種封裝的測(cè)試夾）
AT256全品種集成電路測(cè)試儀測(cè)試原理（v-i曲線測(cè)試）：
對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。
被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕?jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。
集成電路測(cè)試操作如此簡(jiǎn)單:
1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).
2.將集成電路插入測(cè)試座.
3.執(zhí)行測(cè)試
4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.
不需要電子專業(yè)知識(shí).
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板
靈活、好安裝、宜操作.
測(cè)試結(jié)果直接: PASS或FAIL.
軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件.
可提供完整的元件測(cè)試分析報(bào)告.
AT256全品種集成電路測(cè)試儀適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳（DIL）
-小型封裝集成集成電路（SOIC）
-小型封裝（SSOP, TSOP）
-塑料無引線芯片載體封裝（PLCC）
-四方扁平封裝（TQFP, PQFP, LQFP）
-球門陣列封裝（BGA）
注意:AT系列不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊。
測(cè)試通道
標(biāo)準(zhǔn)提供多達(dá)128個(gè)測(cè)試通道, 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。
升級(jí)模塊：64通道
可擴(kuò)充到192/256個(gè)測(cè)試通道。
AT256全品種集成電路測(cè)試儀用兩種模式掃瞄:
•一般模式: 掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上。
•矩陣模式: 掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上。
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