zui大測試管腳:192腳

AT192全品種集成電路測試儀測試適用范圍： 

元器件測試-適用于所有類型的集成電路的測試和元器件的篩選測試
電路板測試-適用各種電路板的檢測（附加測試電纜線和各種封裝的測試夾）

測試原理（v-i曲線測試）： 

對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅(qū)動信號，產(chǎn)生一個阻抗特征圖，以備對比和存儲。
被測器件和數(shù)據(jù)庫中標準動態(tài)阻抗圖相比對，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測試信號可設定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕?jù)需要進行調(diào)整以便得到準確的信息。

AT192全品種集成電路測試儀集成電路測試操作如此簡單:

1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測試的集成電路型號.
2.將集成電路插入測試座.
3.執(zhí)行測試
4.得到PASS或FAIL的測試結(jié)果.

不需要電子專業(yè)知識.
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板
靈活、好安裝、宜操作.
測試結(jié)果直接: PASS或FAIL.
軟件可設定各種測試條件.
可提供完整的元件測試分析報告.

AT192全品種集成電路測試儀適合不同封裝形式的元件: 

-雙列插腳（DIL）
-小型封裝集成集成電路（SOIC）
-小型封裝（SSOP, TSOP）
-塑料無引線芯片載體封裝（PLCC）
-四方扁平封裝（TQFP, PQFP, LQFP）
-球門陣列封裝（BGA）
注意:AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊。

測試通道

標準提供多達128個測試通道, 可設定用于不同的元器件封裝。
升級模塊：64通道 
可擴充到192/256個測試通道。

AT192全品種集成電路測試儀用兩種模式掃瞄:

•一般模式: 掃描信號是以一固定管腳為參考點, 測試信號施加到待測元器件上。
•矩陣模式: 掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點, 測試信號循環(huán)組合施加到待測元器件上。

了解詳細資料請點擊:http://www.bjshtek.net