型號 ACL-800 品牌 美國ACL
類型 便攜式靜電測試儀ACL-800
可測量阻抗、濕度和溫度。
測量表面阻抗103-1012歐姆/m2，測量電阻103-1012歐姆
相對濕度： 10％-90％RH
溫度： 0℃-37.8℃
高精度－全量程范圍內(nèi)
包含電極： --2個5磅重，2.5英寸RTT、RTG盤形電極
-2個3英寸平行表面阻抗測試電極
液晶數(shù)碼顯示
可充電電池
可測量桌墊、地板涂料層、漆面、腕帶、工作服、鞋（鞋套）、袋子和容器
型兆歐表是依據(jù)EOS/ESD，CECC、ASTM和UL測試規(guī)程設計的，用于測量所有導電型、抗靜電型及靜電泄放型表面的阻抗或電阻。使用容易，高品質(zhì)，高可靠度，該儀表還可測量影響電性能的相對濕度和溫度。
特點：
測量阻抗、溫度和濕度，符合ESD標準，S4.1,S7.1和S11.11
103-1012歐姆/□量程，可測試各種材料的電性能。
10伏/100伏測量標度，適合于標準規(guī)定的工作臺面和地面。
塑料儀表保護箱，防止儀表受損
重量輕，只有150Z（425g），攜帶方便
液晶數(shù)碼顯示，容易使用，讀數(shù)方便
自動斷電功能，延長電池使用壽命
自動回零，保證精確度
平行電極，5磅重探頭及內(nèi)置阻抗探頭，均符合ASTM，EOS和CECC標準
?一年質(zhì)量保修期
?美國制造，信心、質(zhì)量、服務的保證
?NIST追蹤，ISO9000保證
?可替換探頭，延長使用壽命
?9V直流電或鎳鎘充電電池或交流變壓器，在美國及海外均通用。
兆歐表操作手冊
測量前，首先確保待測表面干凈無污染。
一、表面阻抗：（Surface Resistivity）
1、平行探頭阻抗測量法（Parallel Probe Resistivity Method）
平行探頭阻抗測量法是符合EOS/ESD－S11.11－1993標準的測量方法，這是一種快速的測量平面均勻材料電阻值的方法。這種方法也適合于多層材料的測量，但是在阻抗值報告中必須注明測量時的溫度和濕度條件。
A、將表放在待測量的物體表面。
B、將開關調(diào)到所需的電壓位置（10伏或100伏）
C、以大約5磅的壓力持續(xù)按下測量按鈕，此時LCD屏會顯示出測量的表面阻抗，溫度和相對濕度值，整個測量過程大約為十五秒種。
表面阻抗單位為歐姆/□
溫度單位為攝式
相對濕度單位為百分比
在每次測量中，按下測量按鈕后，表將連續(xù)顯示修整測量值，松開按鈕后約四十五秒內(nèi)，顯示的是zui后一個測量值。
2、同心環(huán)探頭阻抗測量法（Concentric Ring Probe Resistivity method）（同心環(huán)探頭為選購件）
將連線插頭插入表的兩個3.5毫米插孔，并將香蕉插頭與同心環(huán)探頭 （選購件）相聯(lián)。將探頭放在待測試物體表面后，按下按鈕約15秒鐘后，在液晶顯示屏上將顯示出正確的溫度和相對濕度，正確的表面阻抗值為液晶顯示屏上的讀數(shù)乘以10，單位為歐姆/□。
例如：晶屏上顯示為3.5×104歐姆/□；實際阻抗值為3.5×105歐姆/□。
二、表面電阻測量（點對點） （Surface Resistance Measurement （RTT））
這個測量方法是符合EOS/ESD-S4.1測量要求來測量獨立于接地的兩點之間的電阻，用這個測量方法得出的測量結(jié)果與被測物體的處理、兩個5磅探頭之間的距離等因素有關，因此，應選擇正確的測量規(guī)程，每次在同樣要求的測量條件下進行測試。
A、將連線插頭插入表的兩個3.5毫米插孔，并將香蕉插頭與兩個5磅重探頭相聯(lián)。
B、按照測量規(guī)程將兩個探頭放置在待測物體表面。
C、選擇所需的電壓值（10伏或100伏）
D、按下開關直到顯示出所選的電壓值（10伏或100伏），繼續(xù)按著開關直至所測電阻（單位為歐姆），相對濕度和溫度顯示在液晶顯示屏上。
三、表面對地電阻測量（RTG） （Surface-To-Ground Resistance Measurement （RTG））
這個測量方法是用于測量物體表面一點與表面上另一接地點之間的表面電阻，測量方法符合EOS/ESD S4.1測量標準。
A、將兩條連線的一端分別插入表的兩個3.5毫米插孔，然后將其中一條接鱷魚夾，另外一條與一個5磅重盤形探頭相聯(lián)。
B、將鱷魚夾子接到所知的接地點上，按照測量要求將盤形探頭放在待測物體表面上。
C、按下測量按鈕直至電阻（單位為歐姆）、相對濕度、溫度值顯示在顯示屏上，測量結(jié)果符合EIA，EOS/ESD，ANSI，IEC-93,CECC,ASTM測量標準，對于高阻抗材料的測量時為保證測得高精度測量結(jié)果，需注意不要使兩引線交疊，不要用手接觸探頭，引線和被測物體。
