產(chǎn)品名稱: 多用PDL測量儀
產(chǎn)品簡介:美國通用光電公司生產(chǎn)的多用PDL測量儀利用了功率搜索技術(shù)(與 TIA/EIA-455-198 相匹配),該公司的此儀器可以在很短的時(shí)間內(nèi)測量裝置的偏振相關(guān)損耗(PDL)、插入損耗(IL)、光功率和偏振度(DOP)。它的測量原理與利用擾偏監(jiān)測輸出功率變化的測量方法不同,利用了該公司搜索zui大zui小值的方法。而且此儀器對高低的PDL和SOP都能有精確的輸出。它覆蓋了1260~1650nm范圍內(nèi)的波段。本儀器內(nèi)設(shè)RS-232端口、USB 、和提供電腦控制的網(wǎng)絡(luò)接口,是精確、快速測量無源器件、DWDM 器件、生產(chǎn)、和實(shí)驗(yàn)室的理想儀器。
產(chǎn)品特性:確定性的偏振掃描、快速測量、無需校準(zhǔn)、高精度和可靠性、通過RS-232端口遠(yuǎn)程控制。
產(chǎn)品應(yīng)用:PDL測量、插入損耗測量、DOP測量、PDL/DOP監(jiān)測。