新型 QUADRO 檢測器為材料科學(xué) TEM 提供了的性能,并突破了電子檢測的極限。 一種能夠以非常高的計(jì)數(shù)率進(jìn)行單電子計(jì)數(shù)的直接電子檢測器,具有出色的動(dòng)態(tài)范圍、速度和靈敏度,即使使用聚焦電子束也無需擔(dān)心損壞檢測器
1.核心優(yōu)勢
直接電子檢測
ROI
高達(dá) 18'000 幀/秒
沒有死亡時(shí)間
無噪聲電子計(jì)數(shù)
107 計(jì)數(shù)/像素/秒
不需要光束停止器
— 低能量下的理想 DQE
2.應(yīng)用領(lǐng)域
微電子衍射
4D-STEM
應(yīng)變映射
洛倫茲顯微鏡測繪
疊層成像術(shù)
原位透射電鏡
低能量/光電子顯微鏡LEEM/PEEM
3.技術(shù)規(guī)格
像素尺寸 [μm2] | 75 × 75 |
像素?cái)?shù) | 514 × 514 |
有效面積,寬×高[mm2 | 38.6 × 38.6 |
能量范圍 [kV] | 30 - 300 |
閾值范圍 [kV] | 10 - 80 |
z大幀率,ROI [Hz] | 18‘000 |
z大幀率,全幀 [Hz] | 2‘250 (16-bit), 4‘500 (8-bit) |
傳感器材料 | Si or CdTe |
數(shù)據(jù)格式 | HDF5 |
冷卻 | Water, 20 °C |
探測器尺寸 (WHD) [mm3] | 200 x 350 x 200 |
探測量子效率 (0) | 0.99 @ 100 kV; 0.96 @ 200 kV |
探測器安裝 | Bottom, on-axis |
輻射硬度 [el./mm2] | >5 x 1015 |
像素尺寸 [μm2] | 75 × 75 |
像素?cái)?shù) | 514 × 514 |
有效面積,寬×高[mm2 | 38.6 × 38.6 |
能量范圍 [kV] | 30 - 300 |
閾值范圍 [kV] | 10 - 80 |
z大幀率,ROI [Hz] | 18‘000 |
z大幀率,全幀 [Hz] | 2‘250 (16-bit), 4‘500 (8-bit) |
傳感器材料 | Si or CdTe |
數(shù)據(jù)格式 | HDF5 |
冷卻 | Water, 20 °C |
探測器尺寸 (WHD) [mm3] | 200 x 350 x 200 |
探測量子效率 (0) | 0.99 @ 100 kV; 0.96 @ 200 kV |
探測器安裝 | Bottom, on-axis |
輻射硬度 [el./mm2] | >5 x 1015 |