1、產(chǎn)品特點(diǎn):
DECTRIS EIGER2 X/XE光子計(jì)數(shù)X射線探測器將混合像素科技中的發(fā)展成果轉(zhuǎn)化成的探測性能。歸功于其高達(dá)2000Hz的幀率,低于100ns死區(qū)時(shí)間的無損探測,以及單像素點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)帶來的理想計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)率,使得該探測器能在線站上采集極為準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
新型的EIGE2R X/XE 系列探測器可以為要求極為苛刻的同步輻射應(yīng)用提供的探測性能。具有連續(xù)讀數(shù)能力以及千赫茲幀速率的成像能力為時(shí)間分辨類實(shí)驗(yàn)和XPCS提供了一種全新的手段,使得像ptychography類的慢速掃描成像技術(shù)成為可能。高分辨率和連續(xù)的衍射實(shí)驗(yàn)受益于較小的成像尺寸,通過X射線的直接轉(zhuǎn)換可以獲得的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)。在理想情況下每單位面積的計(jì)數(shù)速率可以與持續(xù)增加的波束線亮度相匹配。
2、核心優(yōu)勢:
- 混合成像計(jì)數(shù):單光子成像計(jì)數(shù)模式下的X射線直接轉(zhuǎn)換能力
- 千赫幀速率占空比> 99%
- 75μm像素尺寸的高空間分辨率
- 優(yōu)秀的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)
- 無讀出噪聲和暗電流
- 極其緊湊的外殼
3、應(yīng)用領(lǐng)域:
-X射線光子相關(guān)光譜(XPCS)
- Ptychography(疊層衍射)成像技術(shù)
- 時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)
- 大分子晶體學(xué)(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)
- X射線成像
型號(hào) | EIGER2 X 500K | EIGER2 X 1M | EIGER2 X 4M | EIGER2 X 9M | EIGER2 X 16M | EIGER2 XE 9M | EIGER2 XE 16M |
有效面積:寬x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||||
總像素?cái)?shù)量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148X4362 | 3108 x 3262 | 4148X4362 |
間隙寬度, 水平/垂直(像素) | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
幀頻* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
計(jì)數(shù)器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
讀出時(shí)間 | 連續(xù)讀數(shù) | ||||||
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) | 1 pixel | ||||||
傳感器材料 | Si | ||||||
傳感器厚度 [μm] | 450 | ||||||
能量范圍 [keV] | 6-40 | ||||||
計(jì)數(shù)率 [ph/s/pixel] | 107 | ||||||
尺寸(WHD)[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 41 | 55 | 41 | 55 |
冷卻方式 | 水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) | 水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) | 水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) | 水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) | 水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) | 水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) | 水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) |