產(chǎn)品型號(hào)：SF6-FTIR-401
產(chǎn)地：德國

1.SF6特性：
　　六氟化硫氣體（SF6）由法國兩位化學(xué)家 Moissan 和 Lebeau 于 1900 年合成。大約從 60年代起， SF6氣體作為優(yōu)異的絕緣和滅弧介質(zhì)成功地應(yīng)用于高壓開關(guān)及其設(shè)備。今天，在高壓、超高壓及特高壓領(lǐng)域，SF6氣體幾乎成為斷路器和 GIS 的絕緣和滅弧介質(zhì)。
 

2.SF6分解物的產(chǎn)生：
　　SF6產(chǎn)品不純，出廠時(shí)含高毒性的低氟化硫、氟化氫等有毒氣體。
　　局部放電下的產(chǎn)物，例如：
　　1） 2SF6  +  O2  →2SOF2  +  8F（氟化亞硫酰）
　　2） 2SF6  +  O2  →2SOF4  +  4F（四氟化硫酰）
　　3） SF6  →SF4  +  2F（四氟化硫）
　　4） SF6  →S  +  6F（硫）
　　5） 2SOF4  +  O2  →2SO2F2  +  4F（氟化硫酰）
　　6）  SF4  +  H2O  →SOF2  +  2HF（氫氟酸）
　　7）  SOF4  +  H2O  →SO2F2  +  2HF（氫氟酸）
　　8） SOF2  +  H2O　→  SO2  +  2HF（二氧化硫）

　　局部放電產(chǎn)生的SF6分解物會(huì)加速絕緣老化并腐蝕金屬表面，隨著電氣設(shè)備絕緣劣化的加劇，將直接導(dǎo)致局部放電的發(fā)生，甚至擊穿，縮短電氣設(shè)備的使用壽命，嚴(yán)重影響電氣設(shè)備的安全運(yùn)行

絕緣材料在SF6分解物腐蝕前后的照片

絕緣材料在SF6分解物腐蝕前后耐壓強(qiáng)度對(duì)照表

3. 局放檢測(cè)技術(shù)-化學(xué)方法應(yīng)用于局部放電檢測(cè)

　　SF6分解物法用于SF6充氣式電力設(shè)備的故障診斷。目前國內(nèi)外電力系統(tǒng)已廣泛開展了電力設(shè)備SF6分解物種類和含量的檢測(cè)，通過該技術(shù)已經(jīng)發(fā)現(xiàn)一些電氣故障，特別是在GIS局部放電方面的應(yīng)用。但基于檢測(cè)技術(shù)的局限性，目前基于化學(xué)傳感器技術(shù)僅能檢測(cè)SO2，H2S，HF等幾種基本物質(zhì)含量，有相當(dāng)?shù)木窒扌浴?nbsp;   例如：SOF2;SF4;SOF4;SO2F2;S2F10;CO;COS;SiF4等物質(zhì)無法檢測(cè)。但SOF4分解物存在與否是與設(shè)備的局部放電有直接關(guān)系。
 

4. FTIR紅外光譜技術(shù)：
　　從20世紀(jì)70年代到現(xiàn)在的30多年中，傅里葉變換紅外光譜技術(shù)(FTIR)發(fā)展非常迅速，隨著傅里葉變換紅外光譜技術(shù)的不斷發(fā)展，紅外光譜儀也在不斷地發(fā)展，不斷地更新?lián)Q代。新的、的紅外光譜儀附件的出現(xiàn)，使紅外光譜儀附件的功能不斷地?cái)U(kuò)大，性能不斷地提高，使紅外光譜技術(shù)得到更加廣泛的應(yīng)用。
　　紅外吸收光譜分析方法是鑒別化合物和確定物質(zhì)分子結(jié)構(gòu)的常用手段之一。對(duì)于單一組分或者混合物中各組分也可以進(jìn)行定量分析，尤其對(duì)于一些較難分離并在紫外、可見區(qū)找不到明顯特征峰的樣品可以方便快捷地完成定性定量分析。
　　紅外光譜法研究的是分子中原子的相對(duì)振動(dòng)，也可歸結(jié)為化學(xué)鍵的振動(dòng)。不同的化學(xué)鍵或官能團(tuán)，其振動(dòng)能級(jí)從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)所需的能量不同，因此要吸收不同的紅外光。物質(zhì)吸收不同的紅外光，將在不同波長出現(xiàn)吸收峰，就形成了紅外光譜。中紅外光譜的測(cè)量區(qū)域位于4000cm-1~400 cm-1，也就是2.5mm~25mm

★ 在同樣的測(cè)量時(shí)間內(nèi)，傅里葉變換紅外光譜儀的信噪比和靈敏度明顯提高。
★ 掃描速度快，傅里葉變換紅外光譜儀可以在1秒內(nèi)測(cè)量多張紅外譜圖。
★ 光通量大，可以檢測(cè)透射比較低的樣品，便于利用各種附件，如漫反射、鏡面反射、衰減全反射等；另外能檢測(cè)不同的樣品形態(tài)，如氣體、固體、液體、薄膜和金屬鍍層等。
★ 分辨率高，便于觀察氣態(tài)分子的精細(xì)結(jié)構(gòu)。
★ 測(cè)定光譜范圍寬，只要相應(yīng)地改變光源、分束器和檢測(cè)器的配置，就可以得到整個(gè)紅外區(qū)的光譜。
★ 波數(shù)精度高，由于采用單色性的He-Ne激光來控制和測(cè)量干涉圖并取樣，使光譜計(jì)算得到很高的波數(shù)精度。

5.  紅外光譜技術(shù)用于SF6分解物多組份分析：
　　國外SF6氣體分解物的研究已開展多年，并取得了相當(dāng)?shù)某晒?。德國化學(xué)博士Dr.Kurte先生和其的科研小組歷經(jīng)十多年的探索和研究，結(jié)合紅外光譜技術(shù)和SF6分解物組分方面的研究成果，研發(fā)成功基于紅外光譜技術(shù)的SF6分解物多組分分析系統(tǒng)，并配備專用數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)。其SF6分解物分析設(shè)備已廣泛應(yīng)用于世界電力工程，對(duì)電力設(shè)備故障的診斷起到了重要作用。具體檢測(cè)數(shù)據(jù)和檢限見下表：

SF6分解物分析軟件

FTIR-SF6 分解物分析系統(tǒng)