一、簡(jiǎn)介：
邊界掃描技術(shù)也就是通常所指的IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)，是由的JTAG工作小組起草并且批準(zhǔn)實(shí)施的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，已經(jīng)在行業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用，所以通常也稱邊界掃描技術(shù)為JTAG技術(shù)，又稱邊界掃描接口為JTAG接口。作為復(fù)雜數(shù)字電路故障診斷專用技術(shù)，目前行業(yè)對(duì)JTAG的支持已經(jīng)比較充分，元器件廠商、EDA工具廠商以及自動(dòng)測(cè)試儀器廠商都推出大量的技術(shù)、產(chǎn)品和設(shè)備并且成功應(yīng)用于電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和維護(hù)等產(chǎn)品生命周期全流程。
博基興業(yè)代理的美國(guó)ASSET InterTech公司是邊界掃描市場(chǎng)的，成立于1995年，專注邊界掃描工具的開(kāi)發(fā)，所研制的邊界掃描開(kāi)發(fā)平臺(tái)不僅供應(yīng)了思科、諾基亞、摩托羅拉等客戶，更得到美國(guó)雷神公司、通用動(dòng)力、洛克.馬丁公司等的青睞，而且在泰瑞達(dá)的HSSub、洛.馬公司的LM-STAR等測(cè)試系統(tǒng)中得到集成使用。
二、ASSET邊界掃描測(cè)試平臺(tái)ScanWorks測(cè)試系統(tǒng)組成介紹
ScanWorks軟件功能：
1 根據(jù)網(wǎng)絡(luò)表和JTAG芯片的BSDL文件，產(chǎn)生包含所需要的測(cè)試數(shù)據(jù)串（脈沖序列代碼）的測(cè)試程序；
2 生成儲(chǔ)存器和可編程器件在線燒錄數(shù)據(jù)；
3 生成測(cè)試覆蓋率報(bào)告；
4 測(cè)試錯(cuò)誤的分析診斷（管腳級(jí)）及圖形顯示；
5 程序測(cè)試；
6 執(zhí)行儲(chǔ)存器測(cè)試；
7 可編程期間程序燒錄；
四、系統(tǒng)主要功能
- Extended Boundary Scan Test 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試（基礎(chǔ)測(cè)試、互聯(lián)測(cè)試、簇測(cè)試、內(nèi)存測(cè)試）
- Control of External Instruments
- 可與ICT測(cè)試設(shè)備配合使用
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可與AOI測(cè)試設(shè)備配合使用
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可與功能測(cè)試配合使用
- Flash/PLD Programming
對(duì)高速Flash進(jìn)行燒寫，壞塊檢測(cè)
PLD在線編程（JAM/STAPL/SVF）
支持IEEE1532標(biāo)準(zhǔn)，可并行對(duì)PLD編程 - Graphical Analysing and Debugging
- 可具體對(duì)器件管腳靈活控制，具有單步及連續(xù)運(yùn)行的診斷功能
-
可準(zhǔn)確定位故障點(diǎn)，通過(guò)故障網(wǎng)絡(luò)可直接定位到原理圖和PCB
支持IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)模擬電路進(jìn)行測(cè)試 對(duì)直流耦合、交流耦合、差分信號(hào)等高速信號(hào)測(cè)試 支持Built-inself-Test(BIST)支持腳本，可對(duì)模數(shù)混合電路進(jìn)行測(cè)試 。
客戶眾多，緊跟測(cè)試世界測(cè)試技術(shù)的前沿，產(chǎn)品不斷滿足各大客戶測(cè)試的需要。
