BK-TS9XX電路板智能測(cè)試平臺(tái)
一、產(chǎn)品概述
工業(yè)領(lǐng)域,電子設(shè)備在變得自動(dòng)化、智能化的同時(shí),設(shè)計(jì)也變得更加復(fù)雜,由于多層高密度PCB板以及BGA封裝器件的大量使用,使得對(duì)電路板的測(cè)試變得極為困難,然而為了應(yīng)對(duì)用戶越來越苛刻的質(zhì)量要求以及設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)使用需要,卻又不得不加強(qiáng)測(cè)試能力的建設(shè),盡管國(guó)外有專用的測(cè)試設(shè)備,然而價(jià)格極為昂貴,使得產(chǎn)品綜合成本居高不下。雖然國(guó)內(nèi)有用戶應(yīng)用虛擬測(cè)試儀器,但是軟件開發(fā)應(yīng)用較為繁瑣復(fù)雜。如何開發(fā)一款功能強(qiáng)大,價(jià)格低廉的通用性測(cè)試設(shè)備,成為眾多測(cè)試設(shè)備廠商努力的方向。
北京博基興業(yè)科技有限公司結(jié)合多年的技術(shù)積累和分析客戶需求特點(diǎn)、綜合市場(chǎng)等因素,推出一款PXI測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)在技術(shù)上結(jié)合ICT技術(shù)、邊界掃描技術(shù)、PCT技術(shù)、模擬電路故障字典、熱紅外成像技術(shù);性能上結(jié)合功能測(cè)試和通斷測(cè)試;另外,該系統(tǒng)平衡了測(cè)試速度、精度、可靠性、升級(jí)性以及預(yù)算等通用需求上存在的矛盾,滿足各整機(jī)設(shè)備廠家生產(chǎn)測(cè)試維修的強(qiáng)烈需求,實(shí)現(xiàn)了“專業(yè)儀器便宜化,通用設(shè)備專業(yè)性”理念,是ATE測(cè)試設(shè)備的方案。
二、產(chǎn)品特點(diǎn):
通用性、開放性和模塊化
BK-PXI系統(tǒng)采用通用開放式集成測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu),將數(shù)字、模擬測(cè)試系統(tǒng)集成在高性能PXI測(cè)試總線上;系統(tǒng)具有2個(gè)PXI機(jī)箱,每個(gè)機(jī)箱都有12插槽,且混合3U和6U規(guī)格, 可滿足各種測(cè)試需求,具備良好的擴(kuò)展和升級(jí)能力; 系統(tǒng)具有的適配板接口設(shè)計(jì),只需更換很少的適配板便可測(cè)試各種接口板卡,如: CPCI,PXI,PCI,PCIe; 模塊可根據(jù)用戶需要進(jìn)行組合、互換,具有模塊化、系列化、通用化和易擴(kuò)展的特點(diǎn); 用戶使用BK-PXI系統(tǒng),只需要開發(fā)被測(cè)板TPS和專用適配器,即可靈活構(gòu)建新的電路板檢測(cè)系統(tǒng)。
具備IEEE1149/IEEE1445標(biāo)準(zhǔn)接口以及功能測(cè)試能力
本系統(tǒng)數(shù)字測(cè)試模塊具備IEEE1149/IEEE1445文件接口,可將利用ScanWorks邊界掃描工具和LASAR電路仿真軟件以及LASAR后處理軟件開發(fā)的電路板測(cè)試文件,直接導(dǎo)入系統(tǒng)并用來測(cè)試和診斷; 系統(tǒng)具備邊界掃描功能,可實(shí)現(xiàn)板級(jí)互聯(lián)測(cè)試,可以測(cè)試電路板物理連接特性,能準(zhǔn)確的定位短路、開路等故障; 基于單元電路的功能測(cè)試,可測(cè)試/確認(rèn)電路板功能的正確性,并能準(zhǔn)確定位到元器件故障;
本系統(tǒng)可節(jié)約TPS開發(fā)成本,降低TPS開發(fā)難度,縮短TPS開發(fā)時(shí)間;并解決了對(duì)以往已開發(fā)的TPS再利用的問題。
具備對(duì)主控計(jì)算機(jī)板卡功能測(cè)試能力
系統(tǒng)采用處理器控制測(cè)試(PCT)技術(shù),可對(duì)各種主控計(jì)算機(jī)板卡進(jìn)行壞板診斷、全速功能測(cè)試、高速FLASH燒錄、有效故障隔離。 PCT技術(shù)作為一種CPU仿真技術(shù),利用CPU內(nèi)部的Debug接口,可實(shí)現(xiàn)在無BIOS的情況下對(duì)板上處理器進(jìn)行仿真,對(duì)MEMORY以I/O進(jìn)行讀寫以及設(shè)置斷點(diǎn),代碼單步執(zhí)行等操作。
的雙屏顯示,人性化的鍵盤、鼠標(biāo)設(shè)計(jì),使得對(duì)設(shè)備操作更加靈活方便
設(shè)備前面板帶有可靈活旋轉(zhuǎn)屏幕的12寸觸摸液晶屏,在設(shè)備的上方安裝有三維擺動(dòng)旋轉(zhuǎn)擺臂,可固定各種尺寸的液晶顯示器。在測(cè)試過程中,雙屏即可分開單獨(dú)使用,也可以作為主副屏共同顯示,軟件快捷切換顯示,非常便于操作。
熱紅外成像儀的使用,可以直觀發(fā)現(xiàn)故障所在
作為邊界掃描測(cè)試、PCT測(cè)試、功能測(cè)試的有效補(bǔ)充,設(shè)備帶有2套熱紅外成像儀(具體可按客戶要求選配),該成像儀使用美國(guó)FLIR公司的產(chǎn)品,分辨率可達(dá):640*512,通過不間斷掃描成像,獲取板上器件功耗值,并變成可視信息供測(cè)試人員進(jìn)行故障診斷,可有效發(fā)現(xiàn)由于局部過流、過壓導(dǎo)致的器件損壞 。
圖形化的TPS開發(fā)和執(zhí)行界面
系統(tǒng)TPS開發(fā)采用圖形化設(shè)計(jì)技術(shù),將模塊化、組件化、可配置、易用性很好的融合在一起,降低TPS開發(fā)難度,易學(xué)易用是其一個(gè)重要特點(diǎn);操作簡(jiǎn)單,具有在線引導(dǎo)提示,降低了對(duì)維修人員的技術(shù)要求; 離線式TPS編輯方式:TPS編輯模塊可脫離儀器和硬件設(shè)備的限制,使得開發(fā)和執(zhí)行可獨(dú)立運(yùn)行,互不干擾,開發(fā)和測(cè)試同步進(jìn)行。
采用組件化軟件設(shè)計(jì)模式
程序開發(fā)采用軟件復(fù)用技術(shù),實(shí)現(xiàn)軟件可移植性,提高系統(tǒng)的可維護(hù)性和可靠性。軟件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)為框架式,有利于平臺(tái)的升級(jí)和維護(hù); 應(yīng)用控件技術(shù),提供了可視化編程環(huán)境、圖形化輸入方式及和諧、友好的人機(jī)界面,降低了用戶使用的技術(shù)門檻。
可滿足不同維修級(jí)別要求
本系統(tǒng)由于具有系列化、通用化、實(shí)用化等優(yōu)異性能,只要配置不同功能的測(cè)試模塊便可滿足研發(fā)、生產(chǎn)、維護(hù)維修等需求。
基礎(chǔ)設(shè)備:配置測(cè)試模塊,實(shí)現(xiàn)常見故障板的維修,實(shí)用現(xiàn)場(chǎng)維修。
擴(kuò)展設(shè)備:配置豐富的測(cè)試模塊,能實(shí)現(xiàn)各種電路板的測(cè)試和故障診斷,具有可擴(kuò)展性,適用中繼級(jí)和基地級(jí)維修。
具有自檢、自校準(zhǔn)功能,系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、易于掌握
系統(tǒng)自檢模塊用于對(duì)全系統(tǒng)的各個(gè)單元進(jìn)行自檢及初始化配置,并能顯示出相應(yīng)的狀態(tài);系統(tǒng)的校準(zhǔn),通過校準(zhǔn)模擬器對(duì)系統(tǒng)誤差的檢測(cè),在測(cè)試軟件中進(jìn)行補(bǔ)償,確保系統(tǒng)的測(cè)量精度;通過自檢模塊實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)自檢、自校準(zhǔn),保證了系統(tǒng)的可靠性,降低了操作者技術(shù)水平的要求和減輕了操作者的檢測(cè)、校準(zhǔn)系統(tǒng)的勞動(dòng)強(qiáng)度; 系統(tǒng)的TPS開發(fā)和儀器、執(zhí)行軟件的操作都有豐富的信息提示,操作簡(jiǎn)單,用戶能夠快速掌握系統(tǒng)的應(yīng)用,較適于軍事應(yīng)用的實(shí)際需要。
三、系統(tǒng)性能指標(biāo)
| 主控制器 | intel ATOM:Dule Core 主頻:1.6GHz |
總線機(jī)箱 | 設(shè)備內(nèi)置2個(gè)PXI機(jī)箱,具有智能控溫功能 | |
人機(jī)交互 | 觸摸屏、顯示器、鼠標(biāo)鍵盤 | |
電源 | 可編程數(shù)字電源10路,提供電壓范圍: 0v ~ ±15v | |
I/O量 | 16組*160,支持TTL,LVTTL,SSTTL,LVDS等電平 | |
系統(tǒng)時(shí)鐘 | 可編程數(shù)字時(shí)鐘5路,0-200MHz | |
模擬輸入 | 模擬采集通道8路,12bit,量程范圍:0-10v,數(shù)據(jù)率:5MHz | |
模擬輸出 | 模擬輸出通道1路,16bit,250K | |
數(shù)字多用表 | 6? Digit DMM,測(cè)量速度100S/s,可測(cè)電壓:±300 VDC,可測(cè) 電流:±1 ADC
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任意波形發(fā)生器 | 2路,12bit, Sine 30MHz,AWG MODE 10MHZ | |
矩陣開關(guān) | 64路信號(hào)開關(guān)切換 | |
其他接口 | JTAG:3路,SPI:8路,I2C:1路,USB:3路,CAN:2路 | |
RS232:4路,RS485:2路 | ||
| 操作系統(tǒng) | WINDOWS XP/2007/2008 |
軟件接口 | 支持PCT 支持IEEE1149 支持IEEE1445 | |
測(cè)試執(zhí)行軟件 | C語言、C++、Labview …… | |
被測(cè)對(duì)象 | 數(shù)字電路、模擬電路、數(shù)?;旌想娐? |
四、軟件特點(diǎn)
通用的軟件開發(fā)平臺(tái),支持各種電路板的TPS開發(fā),靈活實(shí)現(xiàn)被測(cè)目標(biāo)功能測(cè)試、故障診斷、故障分析、故障定位以及故障信息記錄。
統(tǒng)一被測(cè)電路板從研制開發(fā)、設(shè)計(jì)驗(yàn)證、生產(chǎn)過程、質(zhì)量控制、維修補(bǔ)給多階段,使得電路板每一階段都可使用iTEST軟件進(jìn)行電路分析或故障排查,配有測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù),可提供從開發(fā)至生產(chǎn)的無縫轉(zhuǎn)移。提供信息統(tǒng)計(jì)的功能,通過選取系統(tǒng)名稱、設(shè)備名稱、設(shè)備編號(hào)、插板名稱、插板編號(hào)、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試人員中一個(gè)或多個(gè),方便查詢測(cè)試記錄。負(fù)責(zé)執(zhí)行系統(tǒng)中的PCB測(cè)試診斷程序,完成PCB的診斷,同時(shí)對(duì)故障進(jìn)行分析和統(tǒng)計(jì)。