偏振光觀察的新標(biāo)準(zhǔn)
使用UIS2光學(xué)系統(tǒng)和出色的光學(xué)設(shè)計(jì)組合的奧林巴斯BX53-P偏光顯微鏡在偏光應(yīng)用時(shí)提供了出色的性能??蓴U(kuò)展的補(bǔ)償器使BX53-P有足夠多的功能來處理任何相關(guān)領(lǐng)域中的觀察和測量應(yīng)用。
UIS2光學(xué)元件提供了出色的可擴(kuò)展性
UIS2光學(xué)系統(tǒng)防止了光學(xué)顯微鏡性能的降低,消除了對顯微鏡光學(xué)放大倍數(shù)的影響,即使在光路中插入偏光元件,比如起偏振片、色板或補(bǔ)償器。在保持高水平系統(tǒng)靈活性的同時(shí),BX53-P也兼容BX3系列系統(tǒng)顯微鏡的中間附件,以及相機(jī)和成像系統(tǒng)。
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Zonal structure of Plagioclase in quartz diorite. *Scales Indicate actual size of sample | Optical texture of MBBA *Scales Indicate actual size of samples |
正交鏡和錐光鏡成像中的銳利圖像
使用U-CPA錐光鏡觀察附件后,正交偏光和錐光鏡觀察之間的切換簡單而快捷。錐光鏡成像的聚焦輕松而準(zhǔn)確。勃氏透鏡視場光闌的使用使其可以持續(xù)獲取銳利而清晰的錐光圖像。
種類多樣的補(bǔ)償器
BX53-P顯微鏡可以使用6種不同的補(bǔ)償器,能夠測量多種水平延遲,范圍從0到20λ。為使測量更容易,還提供了直接讀數(shù)法。使用Senarmont*或Brace-Koehler補(bǔ)償器可以獲得更高的圖像對比度,以改變整個(gè)視野里的延遲水平。
* 與綠色濾色片IF 546或IF 550。
觀偏光性能升級
ACHN-P和UPLFLN-P物鏡中使用的精巧設(shè)計(jì)和生產(chǎn)技術(shù)與顯微鏡結(jié)合。BX53-P偏光顯微鏡在起偏振片和檢偏振片里配備了高EF值濾色片,提供了出色的圖像對比度。為滿足研究和應(yīng)用的多樣化要求,新型UPLFLN-P系列物鏡采用了適用于多種觀察方法的設(shè)計(jì),包括Nomarski DIC和熒光顯微鏡觀察以及偏光觀察。
* EF(衰減系數(shù))是平行和交叉偏光濾色片之間的亮度比。EF值越高,消光效果就越好。