用途和特點:
XQZ光學(xué)測角比較儀可廣泛適用于光學(xué)及機(jī)械制造業(yè)中,計量部門、車間以及研究院、所的實驗室。實施光學(xué)棱鏡、光學(xué)平板的自準(zhǔn)測量、參照標(biāo)準(zhǔn)角規(guī)對金屬零件及光學(xué)零件的比較測量;導(dǎo)軌的直線度及平板的平面度校準(zhǔn)測量;兩個平面的垂直度、軸與軸端面垂直度測量等。
XQZ光學(xué)測角比較儀操作簡便、直觀,測量穩(wěn)定可靠,借助輔助設(shè)備用途廣泛。
技術(shù)參數(shù):
型號 Model | 示值 Graduation | 分度范圍 Scale Range | 目鏡放大倍率 Magnification | 示值不確定度 Uncertainty | 工作距離范圍 working range | 外形 Dimension(D×W×H) |
XQ60-ZⅠ | 1′ | V60′,H40′ | 10×/15× | ±6″ | 0~1.4m | 200×250×400 |
XQ15-ZⅡ | 15″ | V50′,H38′ | 20× | ±3″ | 0~1.4m | 200×250×400 |
CCD監(jiān)控系統(tǒng)(適用ZI型)