普通型硅片檢測顯微鏡 TGB-200詳細技術(shù)參數(shù)
一、儀器用途
硅片檢測顯微鏡可以觀察到肉眼難觀測的位錯、劃痕、崩邊等;還可以對硅片的雜質(zhì)、殘留物成分分析.雜質(zhì)包括 顆粒、有機雜質(zhì)、無機雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等,造成磨片后的硅片易發(fā)生變花、發(fā)藍、發(fā)黑等現(xiàn)象,使磨片不合格. 是太陽能電池硅片生產(chǎn)企業(yè)進行質(zhì)量控制最普通的儀器。
二、技術(shù)參數(shù)
類型 | 放大倍數(shù) | 視場(mm) |
大視野目鏡 | 10X | Φ16 |
類別 | 放大倍數(shù) | 數(shù)值孔徑(NA) | 工作距離(mm) |
平場消色差物鏡 (無蓋玻片) | 5X | 0.12 | 18.3 |
10X | 0.25 | 8.9 | |
40X | 0.60 | 3.7 | |
60X | 0.85 | 0.26 |
系統(tǒng)參考放大倍數(shù):50X-4000X
4.載物臺:尺寸 185mm*140mm 移動范圍 75mm*50mm
5.調(diào)焦系統(tǒng):帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微動 微動格值 0.002mm
6.濾色片組:轉(zhuǎn)盤式,黃色、藍色、綠色、磨砂玻璃
7.偏光裝置:可插入式起偏振片和三目頭內(nèi)置檢偏振片
8.照明系統(tǒng):6V/20W鹵素?zé)?,亮度可調(diào);220V(50Hz)
9.防霉:的防霉系統(tǒng)
10.成像系統(tǒng):高像素的日本JVC攝像頭
三、系統(tǒng)組成
四、總放大參考倍數(shù)
五、選購件