Filmetrics F20 薄膜厚度測量儀

測量厚度從 1nm 到 10mm 的膜厚測量系統(tǒng)

不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?；谀K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用。

一：測量厚度、折射率、反射率和穿透率：

• 單層膜或多層膜疊加

• 單一膜層

• 液態(tài)膜或空氣層

二：不同條件下的測量，包括：

•  在平面或彎曲表面

• 光斑最小可達(dá)20微米

• 桌面式、XY坐標(biāo)自動(dòng)化膜厚測量，或在線配置

所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時(shí)的電話和互聯(lián)網(wǎng)支持（24小時(shí)/每周5工作日）。這就是Filmetrics的優(yōu)勢，歡迎您試一試！

膜層范例

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。

這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料，例如：

厚度測量范圍

測量原理為何？

軟件功能以使用者為導(dǎo)向

其他的選用配件

選擇Filmetrics的優(yōu)勢

• 桌面式薄膜厚度測量的

• 24小時(shí)電話，和在線支持

• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件

附加特性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費(fèi)離線分析軟件

• 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果

應(yīng)用