測(cè)量厚度從1nm到10mm的*膜厚測(cè)量系統(tǒng)

F20薄膜厚度測(cè)量?jī)x不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過(guò)USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。基于某模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用：

• 測(cè)量厚度、折射率、反射率和穿透率：F20薄膜厚度測(cè)量?jī)x

-     單層膜或多層膜疊加

-     單一膜層

-     液態(tài)膜或空氣層

• 不同條件下的測(cè)量，包括：

-     在平面或彎曲表面

-     光斑小可達(dá)20微米

-     桌面式、XY坐標(biāo)自動(dòng)化膜厚測(cè)量，或在線配置

所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時(shí)的和互聯(lián)網(wǎng)支持（24小時(shí)/每周5工作日）。這就是Filmetrics的優(yōu)勢(shì)！歡迎您試一試！

膜層范例

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測(cè)量。

這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料，例如：

翌穎科技(上海)有限公司主要為半導(dǎo)體、新能源企業(yè)和高校及研發(fā)中心提供各類精密進(jìn)口制程及測(cè)量設(shè)備。提供全面的一對(duì)一*，技術(shù)支持，備件管理和咨詢服務(wù)。