Veeco D3100 Dimension Head ( AFM Scanner )
Veeco D3100 掃描頭 ( AFM Scanner )
掃描范圍:90um*90um
Dimension 3100 SPM使用自動化的原子力顯微鏡和掃描隧道顯微鏡技術,可用來測量直徑可達200毫米的半導體硅片、刻蝕掩膜、磁介質(zhì)、CD/DVD、生物材料、光學材料和其它樣品的表面特性。它的激光點定位系統(tǒng)和無需工具改變掃描技術的能力保證了儀器的適用性、易操作性和高的數(shù)據(jù)處理能力。
儀器名稱: | Dimension3100原子力顯微鏡 | |
型 號: | Dimension 3100 |
生產(chǎn)廠家: | Veeco |
主要配置: | – Dimension 3100 掃描頭和Nanoscope IIId控制器 – 樣品尺寸可達到8英寸晶圓,測量區(qū)域可達到6英寸范圍。 – 全面的表面局域電學測量模塊(SCM/CAFM/SSRM,與Multimode共用) | 性能指標: | 同主要用途 | |
主要用途: |
– 表面形貌、成分分辨 ? 具備接觸、輕敲等多種模式成形貌像,XY分辨率0.25nm,Z噪聲<0.05nm ? 摩擦力圖像、定量相位圖像 – 表面局域電場力、磁場力和表面電勢: ? 電場力、磁場力圖像 ? 表面電勢可分辨表面兩點電勢差值,分辨率10mV – 載流子濃度、氧化層缺陷、局域?qū)щ娦?br> ? 掃描電容模塊(SCM)可測量dc/dV曲線,表征表面局域載流子濃度、氧化層缺陷等 ? 導電原子力(CAFM) 可測量I/V曲線,表征表面局域?qū)щ娦?。偏壓范?mV-12V,電流范圍10nA-1uA ? 掃描擴展電阻(SSRM)可測量表面電阻分布,表征局域?qū)щ娦院洼d流子濃度等。偏壓范圍1mV-12V,電流范圍10pA-1mA – 納米加工 ? 可編程控制針尖動作和測量過程,對表面進行納米操縱、刻蝕等 |