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Amplification近紅外離散放大光子探測器

參考價
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  • 型號
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新時間2024-02-22
  • 廠商性質其他
  • 入駐年限1
  • 實名認證已認證
  • 產(chǎn)品數(shù)量645
  • 人氣值2843
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Amplification熱電冷卻InGaAs探測器可以實現(xiàn)高品質的內部放大,具有高增益(>105)、快速響應(<0.4ns上升時間)和極低的過噪聲因子(<1.05)。
Amplification近紅外離散放大光子探測器 產(chǎn)品詳情

950-1650nmNIR InGaAs光子探測器,2000個光子的靈敏動態(tài),配備熱電冷卻器

      Amplification熱電冷卻InGaAs探測器通過技術可以實現(xiàn)高品質的內部放大,具有高增益(>105)、快速響應(<0.4ns上升時間)和極低的過噪聲因子(<1.05)。該產(chǎn)品采用TO-8封裝,配有熱電冷卻器,環(huán)境溫度為25°C時,可以冷卻到-50°C。

近紅外銦鎵砷光子探測器的TEC性能:

TEC是一款三級冷卻器,采用高質量的散裝BiTe材料制造,符合RoHS規(guī)范,并通過了Telordia GR-468 認證。符合RoHS規(guī)范,并通過了Telcordia GR-468認證。以下是理想條件下的 TEC 性能參數(shù):

近紅外銦鎵砷探測器TEC性能數(shù)據(jù)不包括TO封裝和散熱器布置,實際使用限制冷卻溫度在-50°C至-55°之間。上圖中所示的InGaAs探測器性能參數(shù)是在散熱和無負載條件下獲得的。在TO-8頭部的實際使用中,應仔細考慮設計一個合適的散熱方案。為了獲得的可靠性,建議在非凝結環(huán)境下存儲和操作溫度低于85°C。為了盡量減少熱應力,應使用線性/比例溫度控制或類似的方法,而不是開關控制方法。

Amplification NIRDAPD TEC近紅外探測器是一款近紅外離散放大光子探測器,波長覆蓋950nm1650nm的近紅外波段。Amplification熱電制冷近紅外探測器DAPD TO8專為寬帶模擬檢測低光信號而設計,近紅外銦鎵砷探測器對NIR模擬檢測器而言具有無二的信號脈沖靈敏度。NIR InGaAs光子探測器的靈敏度涵蓋了從單個光子到每脈沖約2000個光子的寬動態(tài)范圍,并且其輸出信號與檢測到的光子數(shù)成正比。

Amplification近紅外TEC探測器DAPD-TO8有兩種不同的有效面積尺寸可供選擇:80µm200µm。


Amplification近紅外探測器的主要特點:

-近紅外光譜響應從9501650 nm

-快速響應:上升時間< 0.4ns

-高增益:在PDE下,G=~100k

  -低噪聲因子:F<1.05

  - TEC冷卻到-50oC

  這表明熱電冷卻InGaAs探測器可以通過熱電制冷(TEC)技術冷卻到極低的溫度。在低溫下,Amplification近紅外離散放大光子探測器的性能可能會得到提高,因為熱噪聲會減少。Amplification近紅外探測器DAPD TO8的輸出信號相對于噪聲是非常干凈的,可以提高檢測的準確性。


Amplification近紅外銦鎵砷探測器的主要應用:

       -激光雷達3D成像

       -激光雷達和環(huán)境監(jiān)測

       -光譜學和儀器

       -量子通信

NIRDAPD TEC近紅外探測器的規(guī)格:(工作溫度為 -50°C 時)          

參數(shù)

DAPD TO8 series

單位

有效區(qū)域直徑

80

200

μm

頻譜響應范圍(λ

950-1650

nm

典型增益 (M)

1x105

-

過量噪聲系數(shù)

1.05

-

光子檢測效率@1550 納米 (PDE)1

10-20

%

單電子響應脈沖寬度 (FWHM)

1.0

1.0

Ns

典型暗計數(shù)率

10

25

Mcps

工作偏置

50-80

V

(1)   近紅外TEC探測器的光子檢測效率包括串擾和后脈沖。




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