概述
SE-L 是一款全自動(dòng)高精度光譜橢偏儀,集眾多科技技術(shù),采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動(dòng)測(cè)量模塊。通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量,快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析。
。高精度自動(dòng)測(cè)量光學(xué)橢偏測(cè)量解決方案
。全自動(dòng)變角、調(diào)焦等控制平臺(tái),一鍵快速測(cè)量
。軟件交互式界面配合輔助向?qū)皆O(shè)計(jì),易上手、操作便捷
。豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫,保證強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析能力
產(chǎn)品特點(diǎn)
采用氘燈和鹵素?zé)魪?fù)合光源,光譜覆蓋紫外到近紅外范圍 (193-2500nm);
高精度旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制、PCRSA配置,實(shí)現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集;
全自動(dòng)橢偏測(cè)量技術(shù),基于行業(yè)電機(jī)控制技術(shù),全自動(dòng)調(diào)整測(cè)量角度,高精度控制樣件臺(tái),實(shí)現(xiàn)樣件快速自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)找焦;
頤光技術(shù)確保在寬光譜范圍內(nèi),提供優(yōu)質(zhì)穩(wěn)定的各波段光譜;
數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料;
產(chǎn)品應(yīng)用
半導(dǎo)體薄膜結(jié)構(gòu):介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜,激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等;
平板顯示:TFT、OLED、等離子顯示板、柔性顯示板等;
光伏太陽能:光伏材料(如Si3N4、Sb2Se3、Sb2S3、CdS等)反射率,消光系數(shù)測(cè)量,膜層厚度及表面粗糙度測(cè)量等;
功能性涂料:增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學(xué)涂層,以及高分子、油類、Al2O3表面鍍層和處理等;
生物和化學(xué)工程:有機(jī)薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理等;
塊狀材料分析:固體(金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等)或液體(純凈物或混合物)的折射率n和消光系數(shù)k表征,玻璃新品研發(fā)和質(zhì)量控制等。
建議配件
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溫控臺(tái) | Mapping擴(kuò)展模塊 | 真空泵 | 透射吸附組件 |