本公司6月1日10時58分報道:NI PXIe-4135高精度系統(tǒng)源測量單元;(/c96719/products/d.html)
產(chǎn)品描述
為PXI系統(tǒng)提供精確的電壓或電流源以及測量功能。
PXI源測量單元(SMU)將高精度源和測量能力與旨在減少測試時間、增加靈活性的特性相結(jié)合。這些特性包括用于構(gòu)建并行SMU測試系統(tǒng)的高通道密度、用于小化軟件開銷的確定性硬件序列以及用于快速改變設(shè)定值和采集數(shù)據(jù)的高速更新和采樣率。此外,PXI SMU靈活的采樣率和流盤能力允許您將儀器當做數(shù)字化儀使用,以捕獲瞬態(tài)行為,而數(shù)字控制循環(huán)則使您能夠調(diào)整儀器的瞬態(tài)響應。改變SMU瞬態(tài)特性的能力(稱為SourceAdapt)降低了SMU穩(wěn)定時間,并且即使在高容性負載情況下,也可小化過沖和振蕩。
PXIe,±200 V,3 A,10 fA精密PXI源測量單元—PXIe-4135是一款高精度系統(tǒng)源測量單元(SMU)。該設(shè)備采用四象限運行模式,可提供高達20 W的直流電源,并可產(chǎn)生高達500 W的脈沖。結(jié)合模數(shù)轉(zhuǎn)換器技術(shù)和原生三軸連接器,該設(shè)備可以以10 fA的電流分辨率或1.8 MS/s的高速采集速率進行高精度測量。該模塊還采用了SourceAdapt技術(shù),可根據(jù)負載的特性來調(diào)整瞬態(tài)響應,從而大限度地提高穩(wěn)定性和測量精度。PXIe-4135是許多應用的理想選擇,包括集成電路(IC)、電源管理集成電路(PMIC)和射頻集成電路(RFIC)等器件以及LED和光收發(fā)器等分立元件的實驗室特性分析、制造測試、板卡測試。
相關(guān)關(guān)鍵詞:示波器,力科示波器,泰克示波器,安捷倫示波器,是德示波器,數(shù)字示波器,示波器,網(wǎng)絡分析儀,信號分析儀,信號發(fā)生器,矢量網(wǎng)絡分析儀,頻譜分析儀,晶體管圖示儀,直流電源,可編程直流電源,半導體測試系統(tǒng),協(xié)議分析儀,藍牙協(xié)議分析儀,以太網(wǎng)測試系統(tǒng),邏輯分析儀,阻抗分析儀,電磁場強測試儀,電磁波場強分析儀,是德頻譜分析儀,安捷倫信號分析儀,函數(shù)發(fā)生器,任意波形發(fā)生器,矢量信號發(fā)生器,安捷倫網(wǎng)絡分析儀,半導體測試儀,半導體特性分析系統(tǒng),功率器件分析儀,動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),星群模擬器系統(tǒng),GNSS模擬器,無線通信測試儀,綜合測試儀,無線測試儀,網(wǎng)絡測試儀,USB協(xié)議分析儀,力議分析儀,SATA協(xié)議分析儀,以太網(wǎng)協(xié)議分析儀,精密阻抗分析儀,精密型LCR表,阻抗分析儀,穩(wěn)科阻抗分析儀,程控直流電源,直流電源分析儀,雙通道直流電源,數(shù)字萬用表,力科邏輯分析儀,WIFI6測試系統(tǒng),示波器探頭,電機驅(qū)動分析儀,串行數(shù)據(jù)分析儀,磁盤驅(qū)動分析儀,安規(guī)測試儀,耐壓測試儀,耐壓測試分析儀