一、產品描述
主要利用電容探測技術，進行高精度無接觸的檢測。非接觸式測試半導體材料、石墨烯、透明導電膜、碳納米管、金屬等材料的厚度特性。
二、主要特點
本儀器為非接觸，非損傷測試，具有測試速度快，重復性佳，測試敏感性高，可以直接測試產品片等優(yōu)點。
三、測試原理
本測試系統(tǒng)采用2個電容傳感器A 和 B，以固定A 和 B的間距D，測試 A和 B離開被測物表面的距離，最后用已知的D-（A+B）得出被測物的厚度。
四、技術參數(shù)
參數(shù) | 探頭 | 說明 | |
組成 | 厚度探頭 | 方法：非接觸式電容探測技術 量程：50μm - 1000μm 測量誤差：≤±3μm 重復性：≤0.2% 單點測量時間：< 1秒 | 型號：CT-120 (九域半導體科技) |
控制器 |
可同時連接電阻率探頭和PN探頭，可擴展溫度探頭 | ||
主機 | PIPO品鉑X10PRO/X10RK 10.1寸高清平板電腦 | ||
測量過程 | 1、放置Wafer至樣品臺待測位置 2、按鈕觸發(fā)測量 3、屏幕顯示測試結果 | ||
Wafer信息 | 尺寸： 2”-8” | ||
額定功率 | 36W | ||
環(huán)境溫度 | 23 ±5°C | ||
電源要求 | 額定電壓（220±22）VAC 頻率（50±1）Hz | ||
五、 儀器使用環(huán)境
1) 環(huán)境溫度：23 ±5°C
2) 環(huán)境濕度：（65±20）%RH
3) 電源要求：額定電壓（220±22）VAC 頻率（50±1）Hz
六、安裝與驗收
1) 物流運輸；
2) 儀器至甲方后，乙方在得到甲方通知后（最遲甲方簽收儀器后5個工作日），上門為甲方安裝通電并協(xié)助甲方驗收；
3) 驗收合格后甲方為乙方簽字確認。
七、技術支持與培訓
1) 乙方提供7*12h在線技術支持，2小時內回饋；
2) 乙方負責在驗收過程中對甲方技術人員現(xiàn)場技術培訓；
3) 在質保期內，乙方為甲方提供全套免費技術服務，不限于更換備件等；質保期后，若非人為損壞儀器的維修服務，乙方只收取硬件成本費用；
八、質保期
本儀器，乙方提供自驗收之日起1年質保
九、發(fā)貨備件清單
序號 | 名稱 | 數(shù)量 |
1 | 手動厚度測試儀 | 1臺 |
2 | 電源線 | 1條 |
3 | 平板電腦 | 1臺 |
4 | 說明書 | 1本 |
5 | 出廠合格證 | 1張 |
