A1/A1R+是日本尼康共聚焦產(chǎn)品系列中的作品，從畫(huà)質(zhì)、靈敏度、成像速度、多功能性、操作舒適性等多角度滿足了用戶對(duì)熒光顯微成像的要求。

功能強(qiáng)大的尼康Ti-E電動(dòng)熒光顯微鏡：

? 共聚焦成像專用物鏡：

新開(kāi)發(fā)的高NA物鏡采用了寬波長(zhǎng)范圍內(nèi)的高準(zhǔn)確度色并矯正，從紫外線到紅外線；尼康納米結(jié)晶涂層技術(shù)可提高光的透過(guò)率，CFI Plan Apo λS系列物鏡提供紫色到紅外的色差校正，可滿足多色熒光成像對(duì)定位精度的要求。

納米結(jié)晶涂層技術(shù)，降低反射光能量比例，提高透射的能量比例：

? PFS對(duì)焦系統(tǒng)：

尼康PFS系統(tǒng)已成功發(fā)展到第三代技術(shù)，甚至是雙光子成像時(shí)也可以應(yīng)用。這樣，在長(zhǎng)時(shí)間照相、增加試劑同時(shí)照相均能保障圖像清晰可靠。

多種提高熒光檢測(cè)靈敏度的方法：

? 高效率的六邊形電動(dòng)針孔：在不影響光切厚度的情況下，比四邊形針孔提高了30%的光透過(guò)率。

? 低激光入射角的高透過(guò)率BM分光系統(tǒng)：由于采用低入射角照明，反射帶波長(zhǎng)范圍窄，透射帶波長(zhǎng)范圍寬，有效地提高了熒光檢測(cè)的透過(guò)率。

? VAAS虛擬可變針孔檢測(cè)系統(tǒng)：在標(biāo)準(zhǔn)的四通道檢測(cè)器基礎(chǔ)上附加四個(gè)檢測(cè)通道，用于檢測(cè)焦平面附近的熒光信息，通過(guò)對(duì)焦平面上和焦平面附件圖像信息的反卷積和重構(gòu)，可獲得明亮但不影響光切厚度的熒光圖像，提高了熒光圖像的檢測(cè)靈敏度。

? GaAsP高靈敏度檢測(cè)器：磷砷化鎵檢測(cè)器在綠光和紅光波段的量子效率是傳統(tǒng)PMT的兩倍，通過(guò)這種高靈敏度檢測(cè)器，可以提高熒光檢測(cè)速度或者提高弱熒光信號(hào)的亮度。

混合掃描技術(shù)：

? XY雙檢流計(jì)掃描系統(tǒng)：線掃描速度可達(dá)5200線/秒，幀掃描速度可達(dá)10幀/秒（512X512像素）或130幀/秒（512X32像素）。

? 共振X掃描加檢流計(jì)Y掃描系統(tǒng)：線掃描速度可達(dá)15600線/秒，幀掃描速度可達(dá)30幀/秒（512X512像素）或420幀/秒（512X32像素）。

? 雙掃描系統(tǒng)同步掃描成像技術(shù)：由于兩套掃描系統(tǒng)的掃描視野數(shù)都是FOV18，A1R+可以通過(guò)雙檢流掃描計(jì)對(duì)感興趣區(qū)域進(jìn)行光刺激，通過(guò)共振X+檢流計(jì)Y掃描系統(tǒng)進(jìn)行同步掃描成像。該功能為揭示分之間的相互作用提供了強(qiáng)大的實(shí)驗(yàn)手段。

強(qiáng)大的光譜成像技術(shù)：

? 包括四個(gè)PMT熒光光譜通道，可同時(shí)采集4通道熒光圖像和1通道透射DIC圖像。

? DEES技術(shù)：通過(guò)調(diào)制熒光偏振方向提高衍射光柵的衍射效率，提高高譜圖像的亮度！

? 32通道同步采集熒光信號(hào)，一次性采集XY平面的全光譜序列圖像，速度極快！

功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)便的共聚焦成像分析軟件：

? NIS-Elements軟件具有強(qiáng)大的照相控制功能，它可以控制包括尼康CCD相機(jī)在內(nèi)的流行的CCD相機(jī)進(jìn)行拍照，可以控制尼康電動(dòng)顯微鏡設(shè)備及其他顯微鏡自動(dòng)廠家的OEM電動(dòng)操作部件。

? 具有多達(dá)6維的多維顯微照相功能。

? 具有多維圖像顯示、處理和分析功能，具有多維圖像AVI制作功能。

? 包括FRET、FRAP、光活化等特殊應(yīng)用模塊

? 支持單分子定位超高分辨率顯微拍照模塊。

? 對(duì)于顯微鏡成像結(jié)果，NIS-Elements還具有動(dòng)態(tài)和靜態(tài)圖文報(bào)告的強(qiáng)大功能。

高質(zhì)量的圖像：

強(qiáng)大的功能擴(kuò)展性能：

? A1+/A1R+掃描頭具有兩個(gè)可見(jiàn)光激光輸入端口：最多可同時(shí)控制7根激光器照明；

? A1+/A1R+掃描頭具有三個(gè)熒光檢測(cè)出口：支持常規(guī)熒光成像、光譜成像、FLIM成像等多種成像技術(shù)；