【已停產(chǎn)，代替品FA1240-61/FA1240-63，點擊查看】
FA1240-5X飛針測試機特點簡介：
FA1240-5X是一種靜態(tài)在線飛針測試機，基本測試內(nèi)容同治具型ICT大致相同，但由于測試探針為任意移動型,且各針之間間距極小(最小為0.2mm)，故可對極小的表面貼裝元件(最小如01005，公制0201))進行測試，克服一般治具型ICT因針間距限制而無法布針的缺陷，提高測試精度，無需治具故可隨時對應(yīng)更換料號，同種料號的設(shè)計改版等，F(xiàn)A1240-5X適用于精細元件貼裝測試樣板，多品種等靈活測試要求。
FA1240-5X具體可對SMT板提供如下測試方案：
◆ 各種表面貼裝及插入式元器件測試
電阻,電容,電感的實際值測試(同標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格值有無偏差,有無漏裝,裝錯)
二極管的VF特性, 穩(wěn)壓二極管測試,通三極管的各極之間的二極管特性(C-B,B-E)測試, 數(shù)字式三極管的E-C間電壓測試,B-E或B-C之間電阻測試, 光電耦合測試,
◆ FET(場效應(yīng)管)各極之間的二極管特性測試
· IC及接插間引腳間橋接測試
· IC引腳同焊盤間的虛焊測試(用4線式低阻測試方式)
· 元器件各引腳之間的Open/Short測試
· 適用標(biāo)配CCD鏡頭可進行簡易AOI測試,對因回路構(gòu)成使無法進行電氣測試的元器件是否漏裝,偏斜,反裝進行確認
· 配備選項可進行FET的動作確認, relay(繼電器ON狀態(tài)下的接點電阻測試)
◆ FA1240-5X可測板510 x 460mm, 測試速度每秒40步(在測試IC引腳間是否橋接時，一般元器件測試為20-30步左右)
◆ FA1240-5X配備標(biāo)準(zhǔn)4端子微小電阻測試功能，對傳統(tǒng)電測因?qū)嶋H電氣導(dǎo)通而無法測出的IC引腳同焊盤間虛焊的潛在不良能精確測出。此種虛焊在一般的出廠測試時，會因IC引腳同焊盤并非脫離而使測試的電流信號通過從而被判定為良品。但隨時間的經(jīng)時變化，振動，溫濕度的改變可能會導(dǎo)致脫離，而使工作信號傳輸中斷。由于此種狀態(tài)的虛焊同正常的焊接連通狀態(tài)的電阻差異極小，故必須通過特殊的4端子微小電阻測試功能來排除探針接觸電阻及機器內(nèi)阻等一切可能影響測試的外在因素
◆ 飛針測試儀FA1240-5X標(biāo)準(zhǔn)配置鏡頭自動對位功能可以克服傳統(tǒng)針床測試因基板脹縮變形，元器件貼裝位置偏移及精細節(jié)距無法布針的缺陷，實現(xiàn)精確的電氣接觸測試。、
◆ 元器件值測試，IC引腳間短路等測試可使用contact probe,FA1240-5X 測點間最小間距可達0.2mm ，4端子微小電阻測試用4-terminal probe時最小間距為0.5mm
◆ （）FA1240-5X可使用標(biāo)準(zhǔn)配置自動對位用CCD鏡頭對因電路構(gòu)造而無法進行電氣測試的元器件進行圖像檢查,大幅度減輕目視檢查的負擔(dān)。使用此圖像檢查功能,可對微小元器件的有無貼裝,極性反向及位置偏移等進行檢查。選用元器件位置對位鏡頭還可對微小元器件的IC位置進行檢查。、
◆ FA1240-5X標(biāo)準(zhǔn)配置探針軟著陸功能。在探針接觸到測點前的瞬間突然減速，的緩和對被測板的沖擊力，結(jié)合探針行程調(diào)整來保護元器件不對其構(gòu)成損傷
◆ FA1240-5X飛針測試儀可根據(jù)客戶特殊要求可選配上下料系統(tǒng)，反轉(zhuǎn)機及條碼識別器，構(gòu)筑自動測試線,提高測試效率，減少人為失誤及縮減人工成本
◆ FA1240-5X可根據(jù)實際電路構(gòu)成，元器件測試時最多可使用兩只探針進行g(shù)uarding
◆ FA1240-5X測試程序生成所需資料及步驟
· Gerber數(shù)據(jù)（一般由PCB廠家提供或有CAD數(shù)據(jù)輸出）
· BOM表 (有元器件名稱及規(guī)格值)
· Mount data (貼片機數(shù)據(jù)，標(biāo)有元件中心坐標(biāo)，角度等)
· PASS板 (經(jīng)功能測試或其它方法確認之良品板,做測試程序時用做學(xué)習(xí)基準(zhǔn)值和程序修正用)
· 電路圖 (用做debug，程序修正參考)
