主要特性:
簡(jiǎn)體中文界面
Windows 5.0操作系統(tǒng)
開(kāi)機(jī)后不需校準(zhǔn)就可直接測(cè)量
采用布魯克技術(shù)的XFlash®SDD檢測(cè)器
分析元素最小從Mg開(kāi)始,達(dá)40多種。
分析范圍:ppm級(jí)至50以上
實(shí)時(shí)分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使測(cè)量范圍更廣
測(cè)量無(wú)損,不受樣品形狀限制
儀器自動(dòng)校準(zhǔn),自動(dòng)存儲(chǔ)測(cè)量數(shù)據(jù),無(wú)需人工干預(yù)
主機(jī)一體化設(shè)計(jì),高強(qiáng)度密封,防水、防塵,抗沖擊
可選擇一鍵式定時(shí)測(cè)量
內(nèi)置Bruker專(zhuān)業(yè)操作軟件,計(jì)算和顯示速度快
儀器適應(yīng)高溫,低溫,潮濕,雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下長(zhǎng)時(shí)間不測(cè)量時(shí),儀器會(huì)自動(dòng)進(jìn)入待機(jī)狀態(tài),以節(jié)省電源和保護(hù)儀器
X射線管耐用性強(qiáng),采用Peltier半導(dǎo)體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
選配GPS定位系統(tǒng),可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
FP模式,大大縮短現(xiàn)場(chǎng)工作時(shí)間。自動(dòng)補(bǔ)償元素間干擾。
野外操作時(shí),自由攜帶,非常方便
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技術(shù)規(guī)格
重量 |
1.5kg | ||||||||||||||||||
尺寸 | 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H) | ||||||||||||||||||
激發(fā)源 | X射線管,Ag靶,40kV | ||||||||||||||||||
檢測(cè)器 | XFlash®硅漂移檢測(cè)器(SDD), 檢測(cè)速度快; 能量分辨率高:145eV, 計(jì)數(shù)率:250kcps | ||||||||||||||||||
冷卻系統(tǒng) | Peltier半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) | ||||||||||||||||||
電源 | 交、直流供電;2塊充電鋰電池,可連續(xù)工作8-12小時(shí) | ||||||||||||||||||
工作條件 | 溫度:-20+55 濕度:095
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