主要特性:
簡體中文界面
Windows 5.0操作系統(tǒng)
開機后不需校準就可直接測量
采用布魯克技術(shù)的XFlash®SDD檢測器
分析元素最小從Mg開始,達40多種。
分析范圍:ppm級至50以上
實時分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使測量范圍更廣
測量*無損,不受樣品形狀限制
儀器自動校準,自動存儲測量數(shù)據(jù),無需人工干預
主機一體化設(shè)計,高強度密封,防水、防塵,抗沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內(nèi)置Bruker專業(yè)操作軟件,計算和顯示速度快
儀器適應高溫,低溫,潮濕,雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
在開機狀態(tài)下長時間不測量時,儀器會自動進入待機狀態(tài),以節(jié)省電源和保護儀器
X射線管耐用性強,采用Peltier半導體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
選配GPS定位系統(tǒng),可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
FP模式,大大縮短現(xiàn)場工作時間。自動補償元素間干擾。
野外操作時,自由攜帶,非常方便
| |||||||||||||||||||
技術(shù)規(guī)格
重量 |
1.5kg | ||||||||||||||||||
尺寸 | 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H) | ||||||||||||||||||
激發(fā)源 | X射線管,Ag靶,40kV | ||||||||||||||||||
檢測器 | XFlash®硅漂移檢測器(SDD), 檢測速度快; 能量分辨率高:145eV, 計數(shù)率:250kcps | ||||||||||||||||||
冷卻系統(tǒng) | Peltier半導體冷卻系統(tǒng) | ||||||||||||||||||
電源 | 交、直流供電;2塊充電鋰電池,可連續(xù)工作8-12小時 | ||||||||||||||||||
工作條件 | 溫度:-20+55 濕度:095
|