儀器特點 :
計算機全數(shù)字化控制,操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖--樣品逼近,保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量,三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。
X、Y二維樣品移動平臺,快速搜索樣品區(qū)域.
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
技術(shù)指標 :
AFM探頭
樣品尺寸:直徑小等于30mm;厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍:標準6X6微米
XY向分辨率:0.4nm(輕敲模式);0.25nm(AFM模式)
Z向分辨率:0.05nm(輕敲式,DNA定標);0.03nm(AFM云母定標)
XY二維樣品移動范圍:5mm;精度0.5微米
步進馬達自動進行針尖-樣品逼近
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
AFM電化學針尖塊,液電池,液體輕敲式成像功能(選配)
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(選購
電子學控制器:
XTZ控制 18-Bit D/A
數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋 DSP數(shù)字反饋
反饋采樣速率
高壓放大器 集成高壓運算放大器,zui大電壓范圍+/-150V
頻率范圍 20K-1000KHz
幅度范圍 0-10.0V
掃描速率 >40000點/秒
掃描角度 0-360度
掃描偏移 任意
圖像采樣點 256X256或512X512
步進馬達控制 手動和自動進退
計算機接口 標準RS232串行/USB