產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
讀寫器抗噪測(cè)試目的是考量讀寫器在面對(duì)外界噪聲干擾時(shí)處理能力,利用RTSA的TimeOverview和DPX功能結(jié)合協(xié)議分析過程,捕獲時(shí)隙利用率、多標(biāo)簽碰撞率、頻譜利用率、頻譜碰撞率等參數(shù),以便幫助讀寫器設(shè)計(jì)者找出實(shí)際缺陷,并給應(yīng)用系統(tǒng)搭建者優(yōu)化建議;同時(shí)得出在不同SIR(信擾比)下,標(biāo)簽解調(diào)性能。
參數(shù)特點(diǎn):
其硬件連接圖如下
抗造性能測(cè)試框圖
泰克實(shí)時(shí)頻譜儀的實(shí)時(shí)顯示(DPX)技術(shù),以及實(shí)時(shí)頻譜概率密度統(tǒng)計(jì)功能(Density )可以實(shí)現(xiàn)頻譜的實(shí)時(shí)觀測(cè)和實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì),從而完成頻譜占用度和頻譜重合度的測(cè)量,而且每一次測(cè)量可以在50ms內(nèi)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)測(cè)量,每50ms內(nèi)的匯集了14600個(gè)頻譜,每秒鐘可以匯集292000個(gè)頻譜的數(shù)據(jù),并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。實(shí)時(shí)信號(hào)分析儀以其*的硬件構(gòu)架實(shí)現(xiàn)了對(duì)RFID跳頻信號(hào)的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。
實(shí)時(shí)信號(hào)分析儀用于RFID干擾診斷