產品介紹: 本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統,眾多很好條件的選擇,保證測試結果的準確性。 X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業(yè)中品質的提升有了檢驗的保障。 Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺,可以通過鼠標的點擊操作,選擇樣品的多點測試,特別適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。 Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數的攝像設備,測試樣品的部位清楚明了,同時攝像設備拍抓測試部位的圖片,和測試數據結果一同出現在測試報告中。 Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。 產品指標: 測厚技術:X射線熒光測厚技術 測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層 測量下限:0.003um 測量上限:30-50um(以材料元素判定) 測量層數:10層 測量用時:30-120秒 探測器類型:Si-PIN電制冷 探測器分辨率:149eV 高壓范圍:5-50Kv,50W X光管參數:5-50Kv,50W,側窗類; 光管靶材:Mo靶; 濾光片:專用鍍層濾光片 CCD觀察:260萬像素 微移動范圍:XY15mm 輸入電壓:AC220V,50/60Hz 測試環(huán)境:非真空條件 數據通訊:USB2.0模式 準直器:Ø0.5mm 軟件方法:FlexFP-Mult 工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義 樣品腔:70*20mm 整機重量:38kg 鍍層測厚方法: 1.磁性涂層測厚法 使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。 2.渦流層層測厚法 可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度 3.X射線熒光法 所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。 常用單位: 微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil) 1um=39.4邁, 1um=0.04mil |