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BX51/BX51M-IR 系統(tǒng)IR顯微鏡
● 近紅外外透射反射觀察用顯微鏡
● 5X到10X紅外鏡頭,像差校正本涵蓋從可見光到近紅外整個波段
● 晶圓,化合物半導(dǎo)體的內(nèi)部,封裝芯片內(nèi)部以及CSP bump觀察適宜
主要特點:
1.UIS無限遠校正光學(xué)系統(tǒng),提供出色的圖像質(zhì)量
2.人機工程學(xué)的進一步改善,使操作更為舒適
3.多種高度功能化的附件,能滿足各種檢驗需要