FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基於Windows 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。
XDL-B 的特色是的距離修正方法。DCM方法（距離控制測(cè)量）自動(dòng)地修正在不同的測(cè)量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對(duì)於XDL?-B 帶測(cè)量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測(cè)試工件和不同測(cè)量距離上實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便測(cè)量的可能性。在加強(qiáng)的軟件功能之下，簡(jiǎn)化了測(cè)量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測(cè)量。
典型的應(yīng)用範(fàn)圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
