1）精煉的全新設(shè)計：在提高機械和電氣穩(wěn)定性的同時，憑借對透射電鏡的豐富經(jīng)驗，對電鏡整體進行了精煉全新設(shè)計，力求為用戶提供全新感受；
2) 四級聚光鏡設(shè)計：為了*大程度發(fā)揮出STEM功能，JEM-F200進行了全新概念的四級聚光鏡設(shè)計，亮度和匯聚角可以分別控制；
3）優(yōu)異掃描系統(tǒng)：在照明系統(tǒng)掃描功能之上又增加了成像系統(tǒng)的掃描功能（選購件）可以獲得大范圍的STEM-EELS；
4）皮米樣品臺控制：標(biāo)配的壓電陶瓷控制樣品臺，可以在原子尺度上獲得精準(zhǔn)的移動；
5）全自動裝樣測角臺（SPECPORTER）：樣品桿的插入拔出只需電鈕即可全自動實現(xiàn)，彰顯其便利性及安全性；
6）成熟的冷場發(fā)射技術(shù)：將JEOL應(yīng)用在球差校正技術(shù)上的優(yōu)異冷場發(fā)射技術(shù)移植到普通的場發(fā)射透射上，可獲得更好的高分辨觀察、更高效的成分分析和更好的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析；
7）雙超級能譜設(shè)計：可安裝雙超級能譜，將普通電鏡能譜的分析能力拓展到原子尺度；
8）節(jié)能減排：啟用省電模式耗電量降低80%。
