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產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品編號: SM-IT510所屬品牌: JEOL產(chǎn)品型號: SM-IT510 額定功率：按實(shí)際方案提供所屬類別: 掃描電鏡所屬用途: 金相組織觀察應(yīng)用領(lǐng)域:產(chǎn)品特性: 只需選擇目標(biāo)視野,“簡單 SEM”支持日常工作下載相關(guān)資料
日本電子JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
- JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
- 掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所的工具，
- 對于需要品控的制造工廠也是的。 在這些場景中，
- 用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。
- JSM-IT510 新增的“簡單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復(fù)操作交給它”，
- 從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。
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NEW 簡單 SEM
只需選擇目標(biāo)視野
“簡單 SEM”支持日常工作
樣品交換導(dǎo)航
從樣品交換引導(dǎo)至自動觀察 安全簡單！
1. 按照導(dǎo)航指南設(shè)置樣品
2. 準(zhǔn)備抽真空觀察
*1 樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)（SNS）是選配件
*2 大區(qū)域樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)（SNSLS）是選配件
*3 樣品室相機(jī)（CS）是選配件
3. 自動開始觀察
真空完成后自動成像
實(shí)時分析/實(shí)時引導(dǎo)圖*2
1. SEM觀察的同時掌握該區(qū)域的元素組成
實(shí)時分析是一項(xiàng)在圖像觀察期間實(shí)時顯示 EDS 光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標(biāo)元素并提供警示。
2. 簡單分析
最多點(diǎn)擊3次即可開始EDS分析
多種高級選項(xiàng)
1. NEW 低真空混合二次電子探測器（LHSED）*
該新型探測器可以收集電子和光子信號，并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像
2. NEW 實(shí)時3D*
新多向分割BE探測器*獲得的圖像可以顯示為實(shí)時3D圖像。
即使樣品具有細(xì)微的表面起伏，實(shí)時3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來，并獲取其深度信息。
3. 蒙太奇
蒙太奇功能可以自動獲取多個小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。
4. 顯示信號深度
此功能實(shí)時顯示被測樣品的分析深度（近似數(shù)值），對元素分析非常有用。
主要可選項(xiàng)
1. 背散射電子探測器BED
2. 低真空混合二次電子探測器LHSED
3. 低真空二次電子檢測器LVSED
4. 能譜儀EDS
5. 波譜儀WDS
6. 電子背散射衍射圖樣EBSD
7. 真空預(yù)抽室LLC
8. 樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)SNS
9. 大區(qū)域樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)SNSLS
10. 樣品室相機(jī)CS
11. 操作面板OP2
12. LaB6電子槍
13. 3D分析軟件SVM
