1、界面一目了然、操作簡(jiǎn)單。
2、三點(diǎn)定圓確定濾紙大小
軟件采用三點(diǎn)定圓的算法,確定濾紙的直徑和掃描范圍。
3、全自動(dòng)掃描，圖像拼接、手動(dòng)聚焦
快速、高效、精準(zhǔn)的濾膜圖像自動(dòng)掃描和拼接（如果用體式顯微鏡方案，速度大約2分鐘）?？啥c(diǎn)
移動(dòng)到視場(chǎng)或顆粒位置進(jìn)行觀察，可用鼠標(biāo)滾輪調(diào)節(jié)焦距。
（平臺(tái)控制界面）
（拼接后的圖像）
4、自動(dòng)搜出金屬、非金屬顆粒以及纖維
（1）明場(chǎng)/暗場(chǎng)分析模式：
對(duì)明場(chǎng)圖像進(jìn)行金屬顆粒分析，對(duì)暗場(chǎng)圖像（分析時(shí)，需加裝偏光裝置）進(jìn)行非金屬顆粒分析，最后進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，分析精確度高。
l 先載入明場(chǎng)模式下的圖像進(jìn)行金屬顆粒分析。
（明場(chǎng)下標(biāo)記可能是金屬的顆粒）
l 再載入暗場(chǎng)模式下的圖像進(jìn)行非金屬顆粒分析
（暗場(chǎng)下標(biāo)記可能是非金屬的顆粒）
l 最后進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)：軟件自動(dòng)整合明場(chǎng)和暗場(chǎng)下的分析結(jié)果進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)
（金屬與非金屬顆粒分析結(jié)果）
（2）明場(chǎng)分析模式：
只對(duì)明場(chǎng)圖像進(jìn)行金屬非金屬分析，最后進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，分析精確度相對(duì)來(lái)說(shuō)較低，但分析速度快。
l 載入明場(chǎng)圖像，進(jìn)行金屬顆粒分析
l 再在該圖像下，進(jìn)行非金屬顆粒分析
l 最后進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)：軟件自動(dòng)整合明場(chǎng)下的金屬顆粒和非金屬分析結(jié)果進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)
（金屬與非金屬顆粒分析結(jié)果）
注：只有進(jìn)行顆粒統(tǒng)計(jì)分析后，才能精確分析出該顆粒是否是金屬或者非金屬顆粒。
5、支持ISO16232、IS04406/4407、GBT14039、GB/T20082-2006及自定義標(biāo)準(zhǔn)
（GBT14039）
（ISO4406/4407）
（ISO 16232）
（GB/T 20082-2006）
（自定義標(biāo)準(zhǔn)）
6、輸出圖文檢測(cè)報(bào)告
系統(tǒng)配置清單
NO | 項(xiàng)目 | 技術(shù)參數(shù) |
1-1 | 正置金相顯微鏡（2選1） | 型號(hào)：CIA-500 鏡頭：2倍，5倍，10倍（物鏡數(shù)量3個(gè)） 偏光裝置：可選 |
1-2 | 體式顯微鏡 （2選1） | 型號(hào)：CIA-100 連續(xù)變倍體式顯微鏡； 放大倍數(shù)范圍0.7-4.5，通過(guò)旋鈕進(jìn)行變倍調(diào)節(jié)； 偏光裝置：可選 |
2 | 電動(dòng)載物臺(tái) | 平臺(tái)行程： 70*70（單位mm） 螺桿導(dǎo)程：2000μm 重復(fù)定位精度：±5μm以內(nèi) 16細(xì)分下的分辨率：?jiǎn)尾?.625μm 步進(jìn)電機(jī)步距角：1.8° 額定工作電流：?jiǎn)屋S1.0A（24V電源供電） 負(fù)載：≥5kg 往返間隙：5微米 |
3 | 驅(qū)動(dòng)控制箱 | 長(zhǎng)*寬*高：307*260*105（單位：毫米） 觸摸屏：實(shí)時(shí)顯示數(shù)據(jù)以及觸控操作 采用通用232串口與PC機(jī)進(jìn)行通信（115200波特率） 串口控制，能設(shè)置電機(jī)的移動(dòng)速度，移動(dòng)距離，移動(dòng)方向 |
4 | 攝像頭 | 300萬(wàn)或500萬(wàn)數(shù)字?jǐn)z像頭 |
5 | 軟件 | 清潔度圖像分析軟件 |
6 | 電腦（選配） | 推薦配置：WIN7操作系統(tǒng)，4核CPU，4G內(nèi)存。 |
1、實(shí)物圖像
l 正置金相顯微鏡方案：
l 體式顯微鏡方案：
l 平臺(tái)特寫(xiě)：
l 控制器：
l 濾膜：
