D8 ADVANCE---剖析藏在樣品中秘密
X射線衍射（XRD）是一種理想的、非破壞性的、可應(yīng)用于大部分類型樣品的無損分析方法！
X射線衍射可用于晶相的確定，含量檢測以及原子結(jié)構(gòu)的測定。樣品用量少，消除了可能產(chǎn)生的樣品物相被破壞和性質(zhì)改變的風險。
在實際應(yīng)用中，對除X射線衍射外的其他方法，復雜組分樣品的測量一直是一個艱巨的挑戰(zhàn)。對于X射線衍射，衍射圖譜中所有的細節(jié)信息都是有價值的，且會被考慮到，并終使樣品表征充分。
衍射圖譜由峰位置、強度和峰形組成，它代表了樣品的特征。利用這些衍射信息，可推斷出樣品的性質(zhì)，同時獲取如下的信息：

從粉末到薄膜輕松的切換---TWIN/TWIN!
試想以下各種不同應(yīng)用的切換：物相分析和反射率分析（XRR）、掠入射(GID)和微區(qū)衍射、小角散射（SAXS）和透射、殘余應(yīng)力和結(jié)構(gòu)解析，是否可以不用手去更換這些精密的光學元件，就準確地完成呢？
Yes！我們可以! 因為我們D8 ADVANCE達芬奇設(shè)計擁有：TWIN/TWIN技術(shù)！

點線焦斑的切換，不再是問題---TWIST TUBE

現(xiàn)在，有了光管旋轉(zhuǎn)技術(shù)---布魯克AXSzhuan利技術(shù)，點線焦斑的切換不再困難，方便自如！
您只需要：松動固定的螺絲，旋轉(zhuǎn)管投至確定的位置，然后旋緊螺絲，OK！達芬奇模式處理剩余的問題，自動識別，自動調(diào)整。