Thermo Scientific™ Apreo SEM 具有泛地適用
性，可以在最短時(shí)間內(nèi)為材料研究人員提供的成
像質(zhì)量。
當(dāng) Apreo 的電子束打開，形貌和成分襯度可以同時(shí)被鏡筒內(nèi)探測系統(tǒng)
呈現(xiàn)：無需繁瑣操作，即可快速探索并獲取樣品各方面信息。在高放大
倍率下，Apreo 的長工作距離（如 10mm 分析工作距離）也能表現(xiàn)出
杰出的分辨性能。即使在絕緣、電子束敏感或磁性的材料上，Apreo的
用戶界面也可以高效地引導(dǎo)操作者獲得表征該納米結(jié)構(gòu)的參數(shù)條
件。 Apreo 能在短時(shí)間內(nèi)解決錯綜復(fù)雜的研究問題，適用于需要多功
能以及多用戶操作的應(yīng)用場合。
Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，其創(chuàng)新的末級
透鏡設(shè)計(jì)，絲毫不會降低對磁性樣品的分辨能力。 靜電式末級透鏡
（Apreo C 和 Apreo S）能夠?qū)崿F(xiàn)鏡筒內(nèi)多種信號的同時(shí)探測和高分辨
率，而 Apreo S 則結(jié)合靜電、浸沒式磁場的復(fù)合透鏡以進(jìn)一步提高低電壓下
的分辨率，在 1 kV 加速電壓下的分辨率為 1.0 nm，不需要電子束減速。通過
將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實(shí)現(xiàn)的信號過濾功能。
Apreo 擁有透鏡內(nèi)背散射探測器 T1，其位置緊靠樣品，確保在較短的時(shí)間
內(nèi)獲得量的采集信號。與其他背散射探測器不同，這種快速的探測器在
導(dǎo)航時(shí)、傾斜時(shí)或工作距離很短時(shí)能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏
感樣品時(shí)，探測器的*性能尤為突出，即使電流低至幾 pA，它也能提供
清晰的背散射圖像。Apreo S 復(fù)合末級透鏡通過能量過濾實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的材料
襯度以及絕緣樣品的無電荷成像，進(jìn)一步提高了 T1 BSE 探測器的使用價(jià)
值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補(bǔ)充其探測能力，例如定向背散射
探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器 (GAD)。所有這些探
測器都擁有無二的軟件控制分割功能，以便根據(jù)需求選擇價(jià)值的樣
品信息
未找到相應(yīng)參數(shù)組，請于后臺屬性模板中添加
