半導(dǎo)體芯片多功能推力測(cè)試機(jī)是一種用于測(cè)試半導(dǎo)體芯片推力的儀器。下面是該產(chǎn)品的詳細(xì)介紹:
型號(hào):LB-8500L
產(chǎn)品特點(diǎn):
多功能測(cè)試:該測(cè)試機(jī)可以同時(shí)測(cè)試半導(dǎo)體芯片的推力和拉力,滿足不同測(cè)試需求。
高精度測(cè)試:采用高精度傳感器和控制系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)精確的推力和拉力測(cè)試。
自動(dòng)化測(cè)試:該測(cè)試機(jī)配備了自動(dòng)化測(cè)試軟件,可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試和數(shù)據(jù)處理,提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
可靠性測(cè)試:該測(cè)試機(jī)可用于半導(dǎo)體芯片的可靠性測(cè)試,包括長(zhǎng)時(shí)間推力測(cè)試和循環(huán)推力測(cè)試等。
易于操作:該測(cè)試機(jī)采用人性化設(shè)計(jì),操作簡(jiǎn)單方便,適用于不同的測(cè)試人員。
產(chǎn)品參數(shù):
設(shè)備型號(hào):LB-8500L
外型尺寸:1500*1200*1600
設(shè)備重量:約850KG
電源供應(yīng):110V/220V@4.0A 50/60HZ
壓縮空氣:4.5-6Bar
真空輸出:500mm Hg
控制電腦:聯(lián)想PC
軟件運(yùn)行:Windows7/Windows10
顯微鏡:三目影像顯微鏡
傳感器更換方式:自動(dòng)切換或手動(dòng)更換測(cè)試模塊
平臺(tái)治具:平臺(tái)共用多種測(cè)試治具,按客戶樣品量身設(shè)計(jì)匹配治具
XY軸有效行程:X軸有效行程500mm,Y軸有效行程300mm,可按客戶產(chǎn)品訂制具體尺寸
Z軸有效行程:80mm
XY軸分辯率:±1um Z軸分辯率±1um
傳感器精度:傳感器精度±0.003%;綜合測(cè)試精度±0.25%
應(yīng)用領(lǐng)域:
該測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片的推力測(cè)試和可靠性測(cè)試,適用于電子、通信、航空航天、汽車等領(lǐng)域。
以上是半導(dǎo)體芯片多功能推力測(cè)試機(jī)的產(chǎn)品詳情。該測(cè)試機(jī)具有多種功能和高精度測(cè)試能力,可滿足不同測(cè)試需求,并廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域。